日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀具有創新的光學上述配置，由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。在處理樣品的時候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定，這對于要求高精度的應用很重要，光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間，并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。

詳細介紹

日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀具有創新的光學上述配置，由于樣品室的維護，再也不用擔心被污染的光束路徑或停機時間。在處理樣品的時候精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定，這對于要求高精度的應用很重要，光學元件以上的幾何結構消除了清潔問題并延長了使用時間，并且無需在進行粉末樣品分析時使用粘合劑，使樣品制備更快捷簡便。

產品特點：
1、操作界面簡潔、自動化程度高；
2、元素從O到U的分析；
3、樣品室可簡單移出方便清潔；
4、管道上方的光學器件使污染問題小化；
5、特殊光學系統減少樣品表面不平而引起的誤差；
6、占地面積小，使用的實驗室空間有限；
7、精度定位樣品臺滿足合金分析高精度要求；
8、統計過程控制軟件工具（SPC）吞吐量可以優化疏散和真空泄漏率。

日本理學ZSX Primus III+ X射線熒光光譜儀，例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學配置進行高精度分析，可實現粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析，可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率，使粉末和金屬樣品的樣品處理量達到標準形式，真空室內飄散粉末損壞光管的風險，以很少的標準在各種樣品類型中快速定量測定從氧氣（O）到鈾（U）的主要和次要原子元素。