IGBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測試服務(wù)范圍

MOSFET、IGBT、DIODE、BJT，第三代半導(dǎo)體器件等分立器件，以及上述元件構(gòu)成的功率模塊。

IGBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測試檢測標準

l  AEC-Q101分立器件認證

l  MIL-STD-750半導(dǎo)體器件試驗?法

l  IEC60747系列SemiconductorDevices,DiscreteDevices

l  GB/T29332半導(dǎo)體器件-分立器件-第9部分：絕緣柵雙極晶體管(IGBT)

l  AQG324功率模塊?規(guī)認證

檢測項目

相關(guān)資質(zhì)

CNAS

服務(wù)背景

功率器件在新能源汽車、智能電網(wǎng)等領(lǐng)域有廣泛應(yīng)用，其中，IGBT技術(shù)瓶頸不斷被打破，第三代半導(dǎo)體功率器件也開始由實驗室階段步?商業(yè)應(yīng)用。通常這些新型器件測試要求更?的電壓和功率?平，更快的開關(guān)時間，對測試設(shè)備及人員技術(shù)要求?，在研發(fā)時間與成本的雙重壓力下，全參數(shù)測試成為不少制造商的難題。

我們的優(yōu)勢

廣電計量積極布局新型IGBT及第三代半導(dǎo)體功率器件的測試業(yè)務(wù)，引進測試技術(shù)，為功率半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)上下游企業(yè)提供器件全參數(shù)檢測服務(wù)。同時，廣電計量通過構(gòu)筑檢測認證與分析?體化平臺，為客?提供器件可靠性驗證及失效分析，幫助客戶分析失效機理，指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計及?藝改進。