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NanoFlip納米壓痕力學測試

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更新時間：2018-07-20 13:57:27瀏覽次數：259次

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上海納騰儀器有限公司

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產品簡介

NanoFlip納米壓痕儀可以提供您的材料研究實驗室帶來無限的便捷。高性能多功能性是NanoFlip設計的標志，當需要進行成像集成，需要進行頻繁的轉換和廣泛的樣本控制時，無論是環境測量還是原位測試，無論有無真空，都能提供同樣出色的結果。

詳細介紹

革命性的Fib2Test技術允許用戶將樣品傾斜90度，以便在雙光束SEM內從FIB無縫過渡到壓痕測試，而無需移除樣品。•設計為*真空兼容，并且具有*的樣品觸發功能，NanoFlip非常適用于現場環境，如SEM，FIB和真空室，或者當您的實驗帶您遷移時，可以在任何情況下工作可以想象的成像系統，如AFM，光學顯微鏡和光學Pro測量儀，為您提供幾乎無限的成像選項。•電磁執行器用于Nanomechanics生產的所有系統，包括NanoFlip。這些執行器是堅固的線性裝置，固有地解耦力和位移。它們的大力為50 mN，分辨率為3 nN，超低噪聲電流小于200 nN。•NanoFlip的時間常數為20微秒，是一個同時符合規格的商用納米壓痕儀，大壓痕行程為50μm，噪聲<0.1nm，數字分辨率為0.004 nm，漂移率為< 0.05nm/s。•為了確保業內較廣泛，較可靠的數據，NanoFlip能夠實現0.1 Hz至1 kHz的動態激勵頻率。•樣品臺移動，Z軸為25 mm，X為21 mm，Y軸為21 mm，分辨率為nm，可在大面積上精確定位樣品。•載荷框架剛度> 7 e5N/m*的*校準系統集成到軟件中，可實現快速，準確和自動的尖 height:150%'>1 kHz的動態激勵頻率。端校準。