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——斷路器功能測試裝置、電能表外置斷路器全性能試驗(yàn)裝置（驅(qū)動能力試驗(yàn)、AC220V電平控制試驗(yàn)、相線泄露電流試驗(yàn)、溫升及功耗測試、脫扣特性、上電延時試驗(yàn)、自動合閉時間試驗(yàn)、同期性試驗(yàn)

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斷路器功能測試裝置、電能表外置斷路器全性能試驗(yàn)裝置（驅(qū)動能力試驗(yàn)、AC220V電平控制試驗(yàn)、相線泄露電流試驗(yàn)、溫升及功耗測試、脫扣特性、上電延時試驗(yàn)、自動合閉時間試驗(yàn)、同期性試驗(yàn)、高溫操作試驗(yàn)、低溫操作試驗(yàn)、高溫脫扣試驗(yàn)、低溫脫扣試驗(yàn)）
標(biāo)準(zhǔn)： Q/G·DW 11421-2015電能表外置斷路器技術(shù)規(guī)范
1.驅(qū)動能力試驗(yàn)：
試驗(yàn)后斷路器無損壞，驅(qū)動能力試驗(yàn)為：
a） 23±2℃環(huán)境中，施加 70%～120%額定控制電壓，串接 100kΩ±1%的電阻。電壓信號加在斷路器的控制端，斷路器能可靠動作 50 次，每次動作完成后間隔時間 10s。
b） 23±2℃環(huán)境中，施加 380V 的控制電壓，串接 100kΩ電阻(±%1）。電壓信號加在斷路器的控制端。
該裝置輸出AC電壓：0~500V可調(diào),分辨率0.1V
推動斷路器閉合動作次數(shù)：1~9999次
推動斷路器閉合動作間隔時間：1~99S
2.AC220V電平控制試驗(yàn)：
功能滿足Q/G·DW 11421-2015表 9 要求。取電方式滿足 5.3.1 的要求
控制電壓：AC220V，電壓分辨率0.1V
該裝置輸出AC電壓220V±1％,分辨率0.1V
3.相線泄露電流試驗(yàn)：
控制單元合閘后，每相線消耗的穩(wěn)態(tài)電流應(yīng)小于 0.2mA，可以自動測試每兩相的泄露電流，電流分辨率0.001mA,測試完后自動判斷是否合格
泄露電流測量范圍:0.01~0.3mA
4. 溫升及功耗測試：
斷路器在正常工作條件下，按規(guī)定條件進(jìn)行試驗(yàn)時，其各部件的溫升不得超過表 7 規(guī)定的極限值，
斷路器不應(yīng)遭到損壞而影響它的功能或使用安全。
溫度測量8路，溫度分辨率0.1度，
測量范圍0~200度;
熱電偶型號：T型
5.脫扣、延時脫扣特性：
GB 10963.1—2005 中 8.6 適用，C 型斷路器時間—電流動作特性滿足表 8 的要求
瞬時脫扣參數(shù)：
1).輸出瞬態(tài)電流(A):2000（4S）；
2).電流測試精度:≤±5%；
3).選相角度:0～360°連續(xù)可調(diào)，步長0.5°；
4).選相合閘時間精度(μs):≤±200；
5).計時范圍：0~999ms；
6).計時誤差:≤±10%；
7).工位數(shù):1工位
8).輸出電壓：0~5V
9).測試時間：≤200ms
延時脫扣參數(shù)：
1).輸出電流(A):1~400（2h）；
2).電流測試精度:≤±2%；
3).自動恒流；
4). 輸出電壓：0~5V
5).計時范圍：1~999999s；
6).計時誤差:≤±1%；
7).工位數(shù):1工位
6.上電延時試驗(yàn)：
對于半自動和全自動控制方式的斷路器進(jìn)行上電延時試驗(yàn)，應(yīng)滿足 4.2.8 的要求。
在系統(tǒng)斷電狀態(tài)下，重新上電，控制信號發(fā)出 4s 內(nèi)，斷路器保持初始狀態(tài)。
計時測試時間：0~999.9s
7.自動合閉時間試驗(yàn)：
對于全自動控制方式的斷路器進(jìn)行合閘時間試驗(yàn)，應(yīng)滿足 4.3.7 的要求。
系統(tǒng)帶電，且斷路器處于分閘狀態(tài)，測量發(fā)出控制信號到斷路器觸頭閉合之間的時間。
計時測試時間：0~999.9s
8.同期性試驗(yàn)：
測量斷路器各極的合、分閘時間，應(yīng)滿足 5.2.3 的要求。
9.高溫操作試驗(yàn)：
斷路器在周圍環(huán)境溫度為（70±2）℃時能滿足 6.7 的要求。按照 GB/T 2423.2—2008 中規(guī)定的方法，對斷路器進(jìn)行高溫操作試驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)過程中斷路器處于合閘帶電狀態(tài)，試驗(yàn)運(yùn)行時間為 96h，要求實(shí)驗(yàn)過Q/GDW 11421—2015，斷路器不應(yīng)脫扣，試驗(yàn)后，斷路器應(yīng)能滿足 6.7 的要求
高溫試驗(yàn)箱加溫范圍：-40~150度
試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：500*500*600
運(yùn)行時間：1~9999h/m/s
10.低溫操作試驗(yàn) ：
斷路器在周圍環(huán)境溫度為（-40±2）℃時能滿足 6.7 的要求。按照 GB/T 2423.1—2008 中規(guī)定的方法，對斷路器進(jìn)行低溫操作試驗(yàn)。實(shí)驗(yàn)過程中斷路器處于合閘帶電狀態(tài)，試驗(yàn)運(yùn)行時間為 96h，要求實(shí)驗(yàn)過程中，斷路器不應(yīng)脫扣，試驗(yàn)后，斷路器應(yīng)能滿足 6.7 的要求。
低溫試驗(yàn)箱加溫范圍：-40~150度
試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：500*500*600
運(yùn)行時間：1~9999h/m/s
11.高溫脫扣試驗(yàn) ：
對斷路器在周圍環(huán)境溫度為（70±2）℃時進(jìn)行高溫脫扣試驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)過程中斷路器處于合閘帶電狀態(tài)，其運(yùn)行狀態(tài)為冷態(tài)時，試驗(yàn)電流為額定電流的 0.9 倍，當(dāng)斷路器的規(guī)格大于 63A 時，各極串聯(lián)不脫扣狀態(tài)至少保持 2h；當(dāng)斷路器的規(guī)格小于等于 63A 時，各極串聯(lián)不脫扣狀態(tài)至少保持 1h。
試驗(yàn)后，斷路器應(yīng)能滿足 6.7 的要求。
高溫試驗(yàn)箱加溫范圍：-40~150度
試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：500*500*600
運(yùn)行時間：1~9999h/m/s
裝置輸出電流：0~400A，分辨率0.1A
裝置輸出電壓：0~5V，分辨率0.1V
測試時間：1~99h/m/s
12.低溫脫扣試驗(yàn)：
對斷路器在周圍環(huán)境溫度為（-40±2）℃時進(jìn)行低溫脫扣試驗(yàn)。
實(shí)驗(yàn)過程中斷路器處于合閘帶電狀態(tài)，當(dāng)其運(yùn)行狀態(tài)為冷態(tài)時，試驗(yàn)電流為額定電流的 1.58 倍，當(dāng)斷路器的規(guī)格大于 63A 時，各極串聯(lián)通電保持 2h；當(dāng)斷路器的規(guī)格小于等于 63A 時，各極串聯(lián)通電保持 1h。實(shí)驗(yàn)過程中斷路器處于合閘帶電狀態(tài)，當(dāng)其運(yùn)行狀態(tài)為緊跟時，試驗(yàn)電流為額定電流的 2.03 倍，
當(dāng)斷路器的規(guī)格大于 63A 時，在 2h 內(nèi)各極串聯(lián)脫扣；當(dāng)斷路器的規(guī)格小于等于 63A 時，在 1h 內(nèi)各極串聯(lián)脫扣。
試驗(yàn)后，斷路器應(yīng)能滿足 6.7 的要求。
低溫試驗(yàn)箱加溫范圍：-40~150度
試驗(yàn)箱內(nèi)箱尺寸：500*500*600
運(yùn)行時間：1~9999h/m/s
裝置輸出電流：0~400A，分辨率0.1A
裝置輸出電壓：0~5V，分辨率0.1V
測試時間：1~99h/m/s
13.電腦配置： CPU： G2120主頻3.1G，；內(nèi)存：8G，硬盤：500G, ATX 250W電源、光驅(qū)、帶鍵盤及鼠標(biāo)，除主板自帶外露接口外，還引出6個COM(主板自帶2個，共引出8個COM，通過配件中帶鍵仔的COM線材可再引出2個COM口) 、1個LPT。主板自帶5個PCI、1個PCI-E*1（PCI-E*4插槽）、1個PCI-E*16擴(kuò)展槽位。
液晶顯示屏:明基VW2245
14.電腦軟件：
1).軟件總體功能要求：檢定軟件至少包含用戶管理、方案配置、測試點(diǎn)配置、測試項(xiàng)目選擇、設(shè)備測試及設(shè)置、報表處理等功能。
2).用戶管理：包括密碼修改和超級用戶管理兩個功能，密碼修改可以供任意用戶修改登陸密碼；超級用戶管理，可供超級用戶刪除系統(tǒng)中現(xiàn)有用戶，重置用戶密碼和增加新用戶；
3).系統(tǒng)介面要求：界面分三部分：設(shè)置區(qū)、操作區(qū)、波形顯示區(qū)、試驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示區(qū)。
4).設(shè)置參數(shù)：包括：定時分閘時間選擇；試驗(yàn)電流量程選擇；選相延時調(diào)整；試驗(yàn)特性選擇；
5).操作區(qū)：包括：合閘按鈕；分閘按鈕；數(shù)據(jù)存儲；
6).波形顯示區(qū)：包括：顯示每次試驗(yàn)所測出的電流波形；應(yīng)用工具可對波形進(jìn)行測量；
7).數(shù)據(jù)顯示區(qū)：包括：通電時間t(S)；允通能量I2t；Ieff-totel瞬動脫扣電流有效值；Ieff-half瞬動脫扣試驗(yàn)中半波有效值；I 長延時的電流有效值；
8).數(shù)據(jù)存儲：當(dāng)做完一次試驗(yàn)后，如要想要保留測試數(shù)據(jù)，可點(diǎn)擊存儲波形按鈕，這時會彈出數(shù)據(jù)對話按鈕，要求輸入產(chǎn)品型號、規(guī)格、編號，測試日期和文件號自動生成，點(diǎn)擊存儲按鈕，自動存入硬盤。并可將測試波形及相關(guān)測試數(shù)據(jù)存入硬盤。
15.控制方式:
上位機(jī)用電腦控制與顯示器顯示，下位機(jī)采用可編程控制器PLC控制.