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超低硅分析儀

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更新時間：2021-06-28 17:17:35瀏覽次數(shù)：280次

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關(guān)河儀器設(shè)備（上海）有限公司

經(jīng)營模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：75條

所在地區(qū)：上海上海市

聯(lián)系人：李同明（業(yè)務(wù)經(jīng)理）

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產(chǎn)品簡介

能夠準(zhǔn)確檢測汽油中硅含量的單波長色散X射線熒光光譜儀汽油在煉制過程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車發(fā)動機中無法*燃燒，時間一長硅的沉積物會造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測被列入國家標(biāo)準(zhǔn)制定范圍之列

詳細介紹

能夠準(zhǔn)確檢測汽油中硅含量的單波長色散X射線熒光光譜儀

汽油在煉制過程中使用了含硅的試劑或催化劑，這些硅化合物在汽車發(fā)動機中無法*燃燒，時間一長硅的沉積物會造成氧氣傳感器失效等故障，因此汽油中硅元素的檢測被列入國家標(biāo)準(zhǔn)制定范圍之列。

針對硅元素的檢測儀器，主要有ICP和XRF兩種方法，相比于ICP方法，XRF方法使用方便，無需專業(yè)經(jīng)驗人員即可操作使用，單波長色散X射線熒光光譜儀（MWD XRF）更具有高靈敏度以及長期穩(wěn)定性等特點，是輕松應(yīng)對超低硅含量分析的利器。

依賴高通量雙向曲面彎晶核心技術(shù)，進一步提升制造工藝，保證光路系統(tǒng)的精密度，真正能夠?qū)⒐铏z出限降低到1PPM以內(nèi)的X射線熒光光譜儀。

比較項	ICP	MWD XRF
原理	電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀	單波長色散X射線熒光光譜儀
消耗	高純氬氣、吹掃用高純氮氣、矩管，消耗約1000元/天	無需鋼瓶氣體樣品杯與樣品膜，消耗4元/樣品
結(jié)果準(zhǔn)確性	影響因素：氣體純度、燃燒充分性、光柵移動重復(fù)性、干擾元素共存譜線	只針對硅元素進行高靈敏度檢測，無任何元素譜線干擾
操作方便性	需要有經(jīng)驗的操作人員，對測試數(shù)據(jù)有解析能力	使用方便，步驟簡單，無需經(jīng)驗即可操作，操作者對測量結(jié)果無影響
檢出限	硅方法檢出限~0.15PPM	硅方法檢出限~0.6PPM

ICP與MWD XRF比較表

測量原理：單波長色散X射線熒光光譜儀

Monochromatic Wavelength Wavelength Dispersive X-Ray Fluorescence Spectrometer（MWD XRF）

符合標(biāo)準(zhǔn)：ASTM D7757

產(chǎn)品特點：

靈敏：高選擇性檢測硅元素，檢測限達到0.6PPM，是針對硅元素非常靈敏的X射線熒光光譜儀
穩(wěn)定：XFS（X-Ray Fixed System）技術(shù)，光路工廠精密調(diào)諧后，不再產(chǎn)生位移或偏差，保證了儀器的長期穩(wěn)定性。5PPM汽油樣品，長期測試RSD值小于7%
快速：單個樣品準(zhǔn)備時間小于10秒鐘；單個樣品分析時間最長1000秒；開機10分鐘內(nèi)即可測試樣品
經(jīng)濟：單個樣品消耗小于4元/樣品，無氣體、溶劑等消耗
方便：使用ESP：Easy Sample Prepare裝置，使得樣品杯與膜成型變得簡單；長時間使用無硬件更換；無需經(jīng)常校正標(biāo)準(zhǔn)曲線