品智創思半導體高倍測金相量顯微鏡是為檢測微波器件封裝、電子陶瓷封裝芯片、光通訊器件、TO封裝、蝶形封裝激光器、集成外腔半導體激光器、晶振封裝、濾波器封裝、集成電路封裝等有較高腔體產品檢測專業打造的，高倍率、高工作距離這一雙高檢測金相顯微鏡領域市場發展空白。

不同于傳統的金相顯微鏡，品智創思APO長工金相顯微鏡選擇了緊湊的結構設計，外觀小巧輕便，操作更為靈活。95mm焦距物鏡超長工作距離，克服了常規金相顯微鏡無法觀察較高臺階半導體的限制。集成了明場、偏光、DIC微分干涉等多種觀察功能，是理想的檢測半導體器件的工具。

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產品特點：

所有光學部件均經過特殊處理并鍍有特殊膜層

靈活緊湊的結構，適應各種環境下的顯微觀察

長工作距專業金相物鏡，高倍物鏡采用半復消技術

各種觀察方法下都能得到清晰銳利與高對比度的顯微圖像

半導體高倍測金相量顯微鏡集成多種觀察方式及專業的金相顯微技術，靈活精巧的設計使金相系統成為可安裝于大型機械設備中的專業金相顯微鏡。可作為大尺寸LCD面板、半導體器件、集成線路（IC）、晶圓（Wafer）、微機電系統（MEMS）或PCD線路板生產設備或檢測設備的視覺系統。通過攝影攝像接口，可將圖像輸出至監視器或計算機方便快速檢測。

多

種觀察方式及專業的金相顯微技術，靈活精巧的設計使金相系統成為可安裝于大型機械設備中的專業金相顯微鏡。可作為大尺寸LCD面板、半導體器件、集成線路（IC）、晶圓（Wafer）、微機電系統（MEMS）或PCD線路板生產設備或檢測設備的視覺系統。通過攝影攝像接口，可將圖像輸出至監視器或計算機方便快速檢測。

 測試效果：