詳細摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
產品型號：所在地：更新時間：2024-04-02 在線留言污水處理設備 污泥處理設備 水處理過濾器 軟化水設備/除鹽設備 純凈水設備 消毒設備|加藥設備 供水/儲水/集水/排水/輔助 水處理膜 過濾器濾芯 水處理濾料 水處理劑 水處理填料 其它水處理設備
束蘊儀器（上海）有限公司
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詳細摘要： 晶圓x射線晶體定向儀分揀系統用于全自動分揀、晶體取向、optical notch and flat determination測定等。Si | SiC | Al...
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詳細摘要： 德國Freiberg Instruments 電阻率測試儀（RESmap ）在對低電阻率晶錠和晶圓進行非接觸式測量方式上擁有非常重要的重復性 Si | Ge |...
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詳細摘要： 測量搖擺曲線意味著在Theta-scan模式下進行測量，這需要一個測角儀。一個雙晶體被帶入主光束路徑，以減少光譜寬度和發散度。然而，其副作用是強烈的強度降低。
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詳細摘要： 晶錠XRD有著的XRD系統，用于單晶晶錠的自動定向、傾斜和對準研磨。SiC | Si| AlN | GaAs | Quartz | LiNbO3 | BBO和其...
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詳細摘要： 在晶圓片的注入和光刻過程中，需要平面或凹槽作為定位標記。切割過程中，晶片必須正確地對準晶圓片上易于切割的晶格面。因此，檢查平面或缺口的位置至關重要。
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詳細摘要： Mapping面掃臺允許使用受控的網格模式來探索整個樣品表面。Omega/Theta XRD可以很容易地在轉盤頂部容納額外的XY定位平臺。樣品表面可以根據用戶定...
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詳細摘要： 靈活的OEM少子壽命測試儀器，用于各種不同樣品的少子壽命測量，從單晶硅磚到多晶硅磚，從生長的硅片到不同層或金屬化的硅片的過程控制。標準的軟件接口，便于連接到許多...
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詳細摘要： 低成本桌面單點測量硅片或晶磚，用于在不同制備階段表征各種不同的硅樣品，無需內置自動化。可選手動操作的z軸厚度高達156毫米的硅磚樣品，高達156毫米硅磚，結果可...
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詳細摘要： MDPmap被設計成一個緊湊的臺式非接觸電學表征工具，用于離線生產控制或研發，在穩態或短脈沖激勵（μ-PCD）下，在一個寬的注入范圍內測量參數，如載流子壽命、光...
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詳細摘要： PIDStudio是一個很的軟件，它非常容易操作和直觀，因為它根據我們用戶的反饋持續更新和改進。
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詳細摘要： 用于單晶硅錠、硅磚和硅晶圓片的生產和質量監控。用于HJT、HIT、TOPcon、雙面PERC、PERC+太陽能電池、鈣鈦礦等中的硅材料。
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詳細摘要： 便攜式現場PID（電位誘發衰減）測試儀，適用于不同類型和尺寸的晶體硅組件，無需拆裝，測試時間在8小時之內（測量時間將少于8小時）。PIDcheck是與德國Fra...
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詳細摘要： 用于單面及雙面電池，HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質量控制Freiberg公司與德國FraunhoferC...
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詳細摘要： SDT 型旋轉滴界面張力儀憑借的測量精度、寬廣的測量范圍、較低的樣本量需求和簡易的樣品預處理方式，成為乳液和表面活性劑研發和質控工作的理想解決工具。這款張力儀能...
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詳細摘要： 表面活性劑作為乳化劑的作用是基于其能降低互不相溶兩相間的界面張力的速度。其應用范圍能涵蓋非常快到非常慢的加工過程，這使得一次測量就能測量從動態到平衡態的界面張力...
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詳細摘要： ，X射線衍射儀是材料學相關領域基礎且的分析手段，具備無損、樣品制備簡單等優勢。X射線衍射儀一般主要由X射線光源部分、測角儀、樣品臺、光路系統、探測器五大部分組成...
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詳細摘要： 氣泡壓力張力儀 – BP100能高精度測量動態表面張力。通過對表面活性劑遷移特性的可靠分析，來優化噴涂、鍍膜、印刷及去污等高速進程。
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詳細摘要： 力學法表面張力儀–K20是一臺精確測量表面張力和界面張力的半自動儀器，性能穩定可靠。環法和板法作為主要張力測試方法，K20為表面活性劑溶液及界面加工的日常質量保...
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詳細摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術）----熒光光譜儀器的leader，提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種偶聯技術的解決方案。 ...
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詳細摘要： HORIBA Scientific（Jobin Yvon光譜技術）作為熒光光譜儀，可以提供全套穩態、瞬態和穩-瞬態以及各種耦聯技術的解決方案。HORIBA Sc...
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