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杭州高品電子科技有限公司
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所 在 地杭州市
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更新時間：2018-05-16 14:51:29瀏覽次數(shù)：336次
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杭州高品電子科技有限公司 吳 傳真
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:（mm）300×150×30
行位公差（國標(biāo)）:±0.10×0.05×0.05
（⊥）: ⊥＜0.05
（∥） :∥＜0.03
（Ra）: Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10
試塊檢測報告:
| 超聲波探傷 | |||
| 檢測儀器 | CTS-26 | 探頭 | 2.5P直徑20 |
| 檢測部位 | 平面 | 耦合劑 | 機油 |
| 增益 | 80% | 抑制 | 關(guān) |
| 衰減 | 42db | ||
| 探傷結(jié)果 | 材質(zhì)均勻,無雜質(zhì),無影響使用缺陷. | ||
| 試塊材質(zhì)符合GB/T699-1999（優(yōu)質(zhì)碳素結(jié)構(gòu)鋼）標(biāo)準(zhǔn)要求. | |||
| 金相分析:晶粒度7-8級 | |||
備注:校準(zhǔn)（檢驗）所用主要計量標(biāo)準(zhǔn)器
1.游標(biāo)卡尺,2.千分尺3.微孔測量儀,4.三坐標(biāo)測量儀,5.超聲波探傷儀,6.平底孔硅橡膠覆膜檢驗,7.*金相顯微鏡,8.樣板平尺,9.粗糙度儀.
CSK-IIIA超聲波標(biāo)準(zhǔn)試塊
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