SIC參數器件測試儀華科智源♦產品特點

 測試系統電壓以1500V為一個模塊，電流以2000A為一個模塊，可擴展至10KA/10KVØ
 內置7顆標準電感負載可選用, 另有外接負載接口,可實現不同電感和電阻負載測試需要(20/50/100/200/500/1000/2000uH)Ø
 另有程控式電感箱可供選擇Ø
 針對不同結構的封裝外觀，通過更換 DUT適配器即可Ø
 可進行室溫到200℃的變溫測試,也可實現子單元測試功能Ø
 測試軟件具有實驗模式和生產模式，測試數據可存儲為Excel文件Ø
 門極電阻可任意調整, 系統內部寄生電感為*小至50nHØ
 系統測試性能穩定,適合大規模生產測試應用（24hr 工作）Ø
 安全穩定（PLC 對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖）Ø
 系統具有安全工作保護功能，以防止模塊高壓大電流損壞時對使用者造成傷害，設計符合CE認證Ø
 支持半自動和全自動測試Ø
 采用品牌工控機，具有抗電磁干擾能力強，排風量大等特點Ø
 自動化：單機測試時只需手動放置DUT，也可連接機械選件實現自動化測試線Ø
 智能化，通過主控計算機進行操控及數據編輯，測試結果自動保存及上傳局域網Ø
Ø軌道級IGBT模塊動態參數測試儀具有 安全性，防爆，防觸電，防燙傷，短路保護等多重保護措施，確保操作人員、設備、數據及樣品安全。

SIC參數器件測試儀華科智源軌道級IGBT模塊動態參數測試儀廠家直供。
產品系列
晶體管圖示儀
半導體分立器件測試篩選系統
靜態參數測試（包括IGEs/VGE(th)/VCEsat/VF/ICEs/VCEs等）
動態參數測試（包括Turn_ON&OFF_L/Qrr_FRD/Qg/Rg/UIS/SC/RBSOA等）
環境老化測試（包括 HTRB/HTGB/H3TRB/Surge等）
熱特性測試（包括 PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等）
可測試 Si/SiC/GaN 材料的IGBTs/MOSFETs/DIODEs/BJTs/SCRs等功率器件