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石家莊泛勝科技有限公司
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| 測量范圍 | 0--10mm | 測量精度 | 0.00mm和0.005mm |
|---|---|---|---|
| 產地 | 國產 | 產品種類 | 其他 |
YHD-2 數顯葉片厚度儀是一種專業測量葉片厚度的工具，可以準確的測量出葉片的厚度。
YHD-2 數顯葉片厚度儀
儀器用途
葉片厚度可以反映植物生長狀態的變化。葉片厚度增加使單位葉片面積內含有更多的光合細胞，葉片越厚，柵欄組織越發達，葉綠素密度大，葉綠素含量高，光合活性也越高。葉片越厚，葉片越能充分利用光能，有利于光合效率的提高。YHD-2 數顯葉片厚度儀是一種專業測量葉片厚度的工具，可以準確的測量出葉片的厚度。
技術參數：
測量范圍：0--10mm
分辨率：0.01mm和0.001mm
精 度：0.02mm和0.005mm
接觸面積：Φ10mm
讀取裝置：數顯
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