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深圳市華科智源科技有限公司
產地 | 國產 | 設備尺寸 | 500(寬)x 450(深)x 250(高)mm |
---|---|---|---|
質量 | 30kg | 海拔高度 | 海拔不超過 1000m |
儲存環境 | -20℃~50℃ | 工作環境 | 15℃~40℃ |
相對濕度 | 20%RH ~ 85%RH | 大氣壓力 | 86Kpa~ 106Kpa |
防護 | 無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導電粉塵等空氣污染的損害 | 用電要求 | AC220V,±10% |
電網頻率 | 50Hz±1Hz |
華科智源靜態參數測試系統,測試二極管 、IGBT,MOS管,SIC器件靜態參數,并生產器件傳輸曲線和轉移曲線,測試1600A,5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于器件設計,封裝測試,軌道交通,電動汽車 ,風力發電,變頻器,焊機等行業的IGBT來料選型和失效分析。
HUSTEC華科智源
HUSTEC-1600A-MT
IGBT靜態參數測試系統
一:靜態參數測試系統主要特點
華科智源HUSTEC-1200A-MT電參數測試儀可用于多種封裝形式的 IGBT測試,還可以測量大功率二極管 、IGBT模塊,大功率 IGBT、大功率雙極型晶體管,MOS管等器件的 V-I 特性測試,測試600A(可擴展至2000A),5000V以下的各種功率器件,廣泛應用于軌道交通,電動汽車 ,風力發電,變頻器,焊機行業的IGBT來料選型和失效分析,設備還可以用于變頻器,風電,軌道交通,電焊機等行業的在線檢修,無需從電路板上取下來進行單獨測試,可實現在線IGBT檢測,測試方便,測試過程簡單,既可以在測試主機里設置參數直接測試,又可以通過軟件控制主機編程后進行自動測試,通過電腦操作完成 IGBT 的靜態參數測試;
靜態參數測試系統測試參數:
ICES 集電極-發射極漏電流
IGESF 正向柵極漏電流
IGESR 反向柵極漏電流
BVCES 集電極-發射極擊穿電壓
VGETH 柵極-發射極閾值電壓
VCESAT 集電極-發射極飽和電壓
ICON 通態電極電流
VGEON 通態柵極電壓
VF 二極管正向導通壓降
整個測試過程自動完成,電腦軟件攜帶數據庫管理查詢功能,可生成測試曲線,方便操作使用。
二:靜態參數測試系統應用范圍
A:IGBT單管及模塊,
B:大功率場效應管(Mosfet)
C:大功率二極管
D:標準低阻值電阻
E:軌道交通,風力發電,新能源汽車,變頻器,焊機等行業篩選以及在線故障檢測
三、靜態參數測試系統特征:
A:測量多種IGBT、MOS管
B:脈沖電流1200A,電壓5KV,測試范圍廣;
C:脈沖寬度 50uS~300uS
D:Vce測量精度2mV
E:Vce測量范圍>10V
F:電腦圖形顯示界面
G:智能保護被測量器件
H:上位機攜帶數據庫功能
I:MOS IGBT內部二極管壓降
J : 一次測試IGBT全部靜態參數
K: 生成測試曲線(IV曲線直觀看到IGBT特性,可以做失效分析以及故障定位)
L:可以進行不同曲線的對比,觀測同一批次產品的曲線狀態,或者不同廠家同一規格參數的曲線對比;
序號 | 測試項目 | 描述 | 測量范圍 | 分辨率 | 精度 |
1 | VF | 二極管正向導通壓降 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
2 | IF | 二極管正向導通電流 | 0~1200A | ≤200A時,0.1A | ≤200A時,±1%±0.1A |
3 | >200A時,1A | >200A時,±1% | |||
4 | Vces | 集電極-發射極電壓 | 0~5000V | 1V | ±1%,±1V |
5 | Ic | 通態集電極電流 | 0~1200A | ≤200A時,0.1A | ≤200A時,±1%±0.1A |
6 | >200A時,1A | >200A時,±1% | |||
7 | Ices | 集電極-發射極漏電流 | 0~50mA | 1nA | ±1%,±10μA |
8 | Vgeth | 柵極-發射極閾值電壓 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
9 | Vcesat | 集電極-發射極飽和電壓 | 0~20V | 1mV | ±1%,±1mV |
10 | Igesf | 正向柵極漏電流 | 0~10uA | 1nA | ±2%,±1nA |
11 | Igesr | 反向柵極漏電流 | |||
12 | Vges | 柵極發射極電壓 | 0~40V | 1mV | ±1%,±1mV |
華科智源靜態參數測試系統針對 IGBT 的各種靜態參數而研制的智能測試系統;自動化程度高(按照操作人員設定的程序自動工作),計算機可以記錄測試結果,測試結果可轉化為文本格式存儲,測試方法靈活(可測試器件以及單個單元和多單元的模塊測試),安全穩定(對設備的工作狀態進行全程實時監控并與硬件進行互鎖),具有安全保護功能,測試速度方便快捷。
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