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深圳市華科智源科技有限公司
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華科智源-HTGB高溫柵偏系統，將被測量元件放置在一定的環境溫度中，給被測元件的柵極施加一定的偏置電壓。系統實時檢測每個材料的漏電流、電壓，當被測材料實時漏電流超過設定值時，自動切斷被測材料上的電壓。
| ★主要技術規格和性能: | ||
| 產品型號 | GKH-HTGB-C16 | |
| 產品名稱 | 高溫柵偏試驗系統 | |
| 高溫試驗箱 | PH-201高溫試驗箱一臺， | |
| 試驗區域 | 16個 | |
| 試驗容量 | 每通道80工位，共16通道。 | |
| 試驗電源 | 選配TDK的Z+系列電源或安捷倫試驗電源。 | |
| 電源數量：配置4臺/8臺電源。 | ||
| 輸出范圍：0～35V或0～60V。 | ||
| 主要功能 | ① 正常HTGB試驗，通過按鈕可以選擇正柵壓或負柵壓，兩種偏壓工作時只能二選一，不能同時工作。 | |
| ② 熱阻測量，即測量HTGB工作時的Tj值。 | ||
| ③ 高溫試驗箱內可放置4層板或8層板。具體需根據器件的封裝尺寸定義。當被測量模塊體積過大時，由于體積的限制，被測器件數據需相應減少。 | ||
| ④ 可選配溫度為300℃的高溫試驗箱。 | ||
| 測控功能 | ① 檢測每個材料的電壓、漏電流值。 | |
| ② 漏電流超限保護，自動切斷測量回路。 | ||
| ③ 測量電流范圍：1nA～100uA； | ||
| ④ 電流分辨率：0.5nA； | ||
| ⑤ 測量精度：±2%±3nA； | ||
| 防靜電設計 | ① 設備外殼良好接地； | |
| ② 預留靜電接地端子（香蕉插頭插孔）方便操作員連接靜電環。 | ||
| 計算機 | 工業級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標。WINDOWS操作界面，友好的人機對話窗口， 強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學。更有系統查詢診斷功能， 試驗狀況一目了然，方便用戶隨時查驗。 | |
| 老化板 | 可按客戶的器件封裝定制老化板。 | |
| 電網要求 | 單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW | |
| 外形尺寸 | W1360mmхH1820mmхD1320mm | |
| 重量 | 約500kg | |
高溫反偏試驗（High Temperature Reverse Bias Test，HTRB）是在高溫下加上反向偏壓的工作模式，由于高溫下漏電流增加，質量差的器件就會失效，以此評估產品的可靠性。
測試溫度：125℃，150℃或175℃。
測試時間：168h，500h，1000h。
測試目的：研究器件在靜態工作模式下，以額定反向直流電壓下或者80%額定反向直流電壓進行工作，以確定偏置條件和溫度隨時間對固態設備的影響。
參考測試標準：JESD22-A108
高溫柵偏試驗（High Temperature Gate Bias, HTGB）主要是用于測定柵氧本身及相關界面的可靠性。
測試溫度：150℃或175℃。
測試時間：500h，1000h。
參考測試標準：JESD22-A108
HTBR和HTGB是可靠性測試中見的測試項目。
適用測試器件：功率二極管， SiC肖特基和肖特基二極管，晶閘管，三端雙向可控硅和IGBT。
試驗設備：高溫反偏試驗機
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