華科智源-IOL間歇壽命測試系統，測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫和低溫，加速芯片內各種組件材料和結合面的熱機械應力，驗證封裝、內部鍵合等承受由芯片操作引起的熱機械應力能力。

詳細介紹

★主要技術規格和性能:
產品型號	HK-IOL-16H
產品名稱	間歇壽命試驗系統
符合標準	試驗線路及試驗方法滿足MIL-STD-750、GJB128及AEC-Q101相關標準要求適用于各種封裝形式的二極管、三極管、MOSFET、IGBT等器件的間歇壽命試驗和穩態壽命試驗。
試驗通道	16個（一板一區）
試驗容量	40×16=640位
基本功能	①每個通道提供一組獨立程控電源。
	②對于三極管、MOSFET器件試驗，可提供部分工位Tj檢測或全部工位Tj檢測。二極管試驗提供全部工位Tj檢測。
	③對于二極管，每工位試驗電流范圍為0～15A，并聯后可提供60A試驗電流。MOSFET及IGBT器件試驗每工位18W試驗功率。只需減少試驗工位，就可增加器件的試驗功率。
	④可使用外部電源。如配置TDK、安捷倫等品牌電源。
計算機	工業級電腦主機、液晶顯示器、專用鍵盤及鼠標。WINDOWS操作界面，友好的人機對話窗口，強大的圖形編輯能力以及強大的器件庫供用戶選擇，軟件操作簡單易學。更有系統查詢診斷功能，試驗狀況一目了然，方便用戶隨時查驗。
老化板	老化板采用子母板的方式，只需更換子板即可試驗不同封裝的器件。
電網要求	單相AC220V±10%，47Hz~63Hz，6KW
外形尺寸	W1620mmхH1820mmхD1320mm
重量	約600kg