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RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡 試驗機

參   考   價: 210

訂  貨  量: ≥1 件

具體成交價以合同協議為準

產品型號

品       牌其他品牌

廠商性質生產商

所  在  地東莞市

更新時間:2023-11-23 15:34:17瀏覽次數:488次

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測量范圍 / 產地 國產
產品用途 / 外形尺寸 /mm
重量 /kg
RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡,微米技術實現了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對分辨率測試卡。 當今,微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測試卡則是調整、設置、檢查和維護 X 射線系統的必要工具。

日本JIMA RT CT-05B   X射線微米分辨率測試卡

微米技術實現了具有 16 種不同寬度(3 至 50μm)的高精度線對分辨率測試卡。 當今,微焦點成為主流的 X 射線光束尺寸,而分辨率測試卡則是調整、設置、檢查和維護 X 射線系統的必要工具。



RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡

規格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料:金,厚度≥1.0μm

保護膜:鋁蒸汽保護膜,厚度 0.1mm

線數:3 線(只有 3-10μm:6 線)

線條寬度(線條與間距寬度相同):

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

線對寬度公差:±10%

工作溫度:+10℃至+70℃


RT CT-05B X射線微米分辨率測試卡

規格尺寸:40 x 30 mm, 3mm 厚度

硅基:8 x 8 mm, 0.2mm 厚度

吸收材料:金,厚度≥1.0μm

保護膜:鋁蒸汽保護膜,厚度 0.1mm

線數:3 線(只有 3-10μm:6 線)

線條寬度(線條與間距寬度相同):

T 型布局 3、4、5、6、7、8、9、10μm;
I型布局 15、20、25、30、35、40、45、50μm

線對寬度公差:±10%

工作溫度:+10℃至+70℃



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