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天津容大檢測(cè)
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天津容大檢測(cè)
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
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更新時(shí)間：2022-08-03 14:24:11瀏覽次數(shù)：217次
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微觀分析
| 項(xiàng)目名稱(chēng) | 微觀分析 | |
| 檢測(cè)目的 | 觀察微觀區(qū)域的形貌 | |
| 檢測(cè)范圍 | 電子元器件、汽車(chē)電子、 醫(yī)療、通訊、手機(jī)、電 腦、電氣等 |
| 微觀分析項(xiàng)目簡(jiǎn)介 |
按照具體檢測(cè)要求，通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀察的檢測(cè)項(xiàng)目。對(duì)于電鏡，借助輔助設(shè)備，還可以進(jìn)行微觀區(qū)域內(nèi)的成分分析，通過(guò)線掃和mapping能夠得出元素分布情況。電子探針和能譜的探測(cè)范圍為Be~U。
| 微觀分析試驗(yàn)?zāi)康?/strong> |
和的目的都是單純的評(píng)定組織（包括組織、形態(tài)、取向，沉淀和夾渣與各種裂紋和空穴關(guān)系，檢測(cè)截面還要能記錄截面平面的取樣形態(tài)）。
| 微觀分析試驗(yàn)步驟 |
一般步驟：
制樣（切割、鑲嵌、研磨、拋光、適當(dāng)腐蝕）→腐蝕→觀察
| 微觀分析試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn) |
光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡（SEM）、透射電鏡（TEM）、電子探針（EPMA）、能譜（EDS）
| 容大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室 |
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