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天津容大檢測(cè)
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌
廠商性質(zhì)其他
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更新時(shí)間:2022-08-03 14:24:11瀏覽次數(shù):217次
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微觀分析
項(xiàng)目名稱(chēng) | 微觀分析 | |
檢測(cè)目的 | 觀察微觀區(qū)域的形貌 | |
檢測(cè)范圍 | 電子元器件、汽車(chē)電子、 醫(yī)療、通訊、手機(jī)、電 腦、電氣等 |
微觀分析項(xiàng)目簡(jiǎn)介 |
按照具體檢測(cè)要求,通過(guò)光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡、透射電鏡對(duì)樣品的表面、斷口及其它關(guān)注截面進(jìn)行高倍觀察。比如表面形貌、斷口形貌、金相組織、微觀層狀結(jié)構(gòu)等需要進(jìn)行高倍觀察的檢測(cè)項(xiàng)目。對(duì)于電鏡,借助輔助設(shè)備,還可以進(jìn)行微觀區(qū)域內(nèi)的成分分析,通過(guò)線掃和mapping能夠得出元素分布情況。電子探針和能譜的探測(cè)范圍為Be~U。
微觀分析試驗(yàn)?zāi)康?/strong> |
和的目的都是單純的評(píng)定組織(包括組織、形態(tài)、取向,沉淀和夾渣與各種裂紋和空穴關(guān)系,檢測(cè)截面還要能記錄截面平面的取樣形態(tài))。
| 微觀分析試驗(yàn)步驟 |
一般步驟:
制樣(切割、鑲嵌、研磨、拋光、適當(dāng)腐蝕)→腐蝕→觀察
| 微觀分析試驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn) |
光學(xué)顯微鏡、掃描電鏡(SEM)、透射電鏡(TEM)、電子探針(EPMA)、能譜(EDS)
| 容大檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室 |
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