潘經理
當前位置:山東正義檢測科技有限公司>>涂層測厚儀>> 宇問EC770XE分體涂層測厚儀
測量范圍 | 0~5000um | 加工定制 | 否 |
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技術指標
測量原理:磁感應(F探頭);渦流效應(N探頭);
測量范圍:F:0~5000um;N:3000um
測量精度(典型值):± (讀數的2%+1um);
分辨率:0um~99um(0.1um), 100um~999um (1um), 1000um~5000um (0.01mm);
校準:零點校準;
數據存儲與分組:一個直接組(數據不保存)和四個通用組(數據可被保存),每組有單獨的統計,報警上下限設置和校準設置;
統計值:支持平均值、小值、大值和標準方差;
支持單位:um, mm, mils;
報警:用戶可設置上下報警限,當發生報警時,液晶屏幕可顯示提示;
曲率半徑:凸5mm,凹25mm;
測量面積:直徑20mm;
基材厚度:0.2mm(F探頭);0.05mm(N探頭);
電腦接口:可通過USB口連接計算機下載數據;
電源:兩節1.5V AAA電池;
操作溫度:0~40℃;
保存溫度:--20℃ to 70℃;
尺寸:110mm*53mm*24mm;
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