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CTS-30A超聲波測厚儀CTS-30A SIUI厚度測量儀
| 測量范圍 | 0.08毫米～635毫米 | 加工定制 | 否 |
|---|---|---|---|
| 顯示方式 | 數顯 |
主要特性
•可與雙晶和單晶探頭兼容。
•寬泛的厚度范圍：0.08毫米～635毫米，根據材料和所選探頭而定。
•使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
•穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
•內部氧化層/沉積物軟件選項。
•對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米。
•使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
•多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
•高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
•厚度、聲速和渡越時間測量。
•差分模式和縮減率模式。
•時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可查讀數。
•帶有數字式過濾器的Olympus高動態增益技術。
•用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能。
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