XAU | |
RoHS分析 | 有害元素檢測(cè)，RoHS（As、Pb、Hg、Cd、Cr、Br）、鹵素 |
涂鍍層檢測(cè) | 選配 |
EFP算法 | 標(biāo)配 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作 |
探測(cè)器 | Si-Pin半導(dǎo)體探測(cè)器 |
X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準(zhǔn)直器 | Φ5mm |
微光聚焦技術(shù) | 最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度 10% |
濾光片 | 集成嵌入式多濾光片切換裝置 |
樣品觀測(cè) | 1/2.7"彩色CCD，變焦功能 |
對(duì)焦方式 | 高敏感鏡頭，手動(dòng)對(duì)焦 |
放大倍數(shù) | 光學(xué)38-46X，數(shù)字放大40-200倍 |
儀器尺寸 | 470mm*550mm*480mm |
樣品腔高度 | 215mm |
樣品臺(tái)移動(dòng) | 無 |
儀器重量 | 45KG |
其他附件 | 電腦一套、打印機(jī)、附件箱、RoHS標(biāo)準(zhǔn)片 |
X射線標(biāo)準(zhǔn) | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |
一、產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：
XAU是一款針對(duì)RoHS、鹵素檢測(cè)分析而開發(fā)出來的高集成光譜分析儀；
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用；
1. 裝配Si-PIN半導(dǎo)體探測(cè)器，大大提高了檢測(cè)范圍及精度；
2. 人性化封閉軟件，自動(dòng)判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作；
3. RoHS、鹵素有害元素檢測(cè)，檢出限可達(dá)2ppm；
4. 配有微光聚集技術(shù)，最近測(cè)距光斑擴(kuò)散度小于10%；
5. 采用高清晰攝像定位系統(tǒng)，樣品觀察清晰，定位準(zhǔn)確；
6. 核心配件高集成模塊化設(shè)計(jì),結(jié)構(gòu)緊湊,避免相互電磁干擾,提高了儀器的檢出限,降低了儀器的故障率；
7. 下照式設(shè)計(jì)，測(cè)樣快捷；
8. 一鍵RoHS檢測(cè)，自動(dòng)識(shí)別材料類別并自動(dòng)匹配程式，實(shí)現(xiàn)一鍵分析。
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