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CR DR 科研數(shù)字?jǐn)z影系統(tǒng)綜合檢測(cè)模體 X射線儀器

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  Fluke 451P

電離室巡檢儀

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

一次曝光完成六個(gè)成像性能指標(biāo)檢測(cè),線束軸垂直度, 空間分辨力,低對(duì)比度,殘影,影像均勻性,圖像幾何畸變.

詳細(xì)介紹

1．模型基材料：鍛造鋁板，純度>99.5%，正方形，外尺寸200mmX200mm±0.1mm，厚度20mm+0.05mm

2．低對(duì)比度測(cè)試區(qū)：圓孔直徑15mm±0.05mm，20組，順時(shí)針，環(huán)形分布，等間距。深度按順序逐次增加，孔深偏差小于±0.02mm，側(cè)邊標(biāo)注對(duì)應(yīng)打碼編號(hào)（非全部）（詳細(xì)指標(biāo)見下表）。

19組對(duì)比度范圍為：0.35%, 0.55%, 0.75%, 0.95%, 1.1%, 1.3%, 1.6%, 1.8%, 2.2%, 2.6 %, 4.4%, 5.3%, 6.8 %, 7.4%, 8.8%, 10.7%, 12.5%, 14.5%, 16.0%.

1組全遮擋不透射靶區(qū)：可做殘影試驗(yàn)。

序號(hào)	孔深（mm）	對(duì)比度	序號(hào)	孔深（mm）	對(duì)比度
1	3.2	0.16	11	0.44	0.022
2	2.9	0.145	12	0.36	0.018
3	2.5	0.125	13	0.32	0.016
4	2.14	0.107	14	0.26	0.013
5	1.76	0.088	15	0.22	0.011
6	1.48	0.074	16	0.19	0.0095
7	1.36	0.068	17	0.15	0.0075
8	1.06	0.053	18	0.11	0.0055
9	0.88	0.044	19	0.07	0.0035
10	0.52	0.026	20	2.0mm Pb	不透射