美國麥奇克Microtrac圖像分析儀參數

  美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上zui的激光應用技術研究和制造廠商，其先進的激光粒度分析儀已廣泛應用于水泥，磨料，冶金，制藥，石油，石化，陶瓷，*等領域，并成為眾多行業的質量檢測和控制的分析儀器。Microtrac Inc.公司非常注重技術創新，近半個世紀以來，一直著激光粒度分析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用支持及完善的售后服務，使得其不斷超越自我，推陳出新，。麥奇克Microtrac以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解，經過多年的市場調研和潛心研究，開發出一代Zetatrac微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的Zeta電位分析技術相比，Zetatrac采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

Microtrac動態顆粒圖像分析儀技術參數：

多于30種的形態參數

干法的測量范圍：4μm --4,500μm

采用壓縮空氣分散精細粉末

相機速度：至少100幅/秒，高分辨率相機

堅固而緊湊的外觀設計

封閉式的光學系統，減少停機維護

測試方法：動態顆粒圖像實時分析

樣品用量：0.5-50g

測量時間：1-5分鐘的雙光路一體化設計

用戶可自行定義被測樣品的上下限粒度閾值，進行趨勢分析，統計被測顆粒的數量，及時反饋調準

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