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FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀

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更新時間：2022-05-29 11:08:47瀏覽次數：87次

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寧波盤羊儀器有限公司

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產品簡介

FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀FT-330Seriescommonfourproberesistanceratiotestinstrument一.描述Deion：采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差

詳細介紹

FT-330系列普通四探針方阻電阻率測試儀

FT-330Series common four probe resistance ratio test instrument

一.描述Deion：

采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，優于同類儀器精度.特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.提供通訊接口，PC軟件數據處理及數據分析.中文或英文語言版本.

Using the Vanderbilt measuring principlecan improve the influence and error of external factors on measurementresults,such as the geometric size of sample and boundary effect. probe notequidistant and moving machinery. And is superior to similar precisioninstruments. especially the product measurement of square resistance whichvalue smaller . more accurate. Provide communication interface. PC softwaredata processing and data analysis. In Chinese or English languages.

二.滿足標準standard：

硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）及標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

silicon resistivity measurements ofinternational standards (ASTM F84) and national standard design and manufactureof the equipment is designed in accordance with GB/T 1551-2009 "Method ofdetermination of silicon single crystal resistivity" GB/T 1552-1995. Siliconａnd germanium single crystal resistivity to determine DC four probe method".

三.適用范圍Applicable scope：

適用于生產企業、高等校、科研部門，是檢驗和分析半導體材料質量的工具；液晶顯示，自動測量和系數補償，并帶有溫度補償功能，自動轉換量程；采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便；選配：PC軟件，保存和打印數據，生成報表

suitable for manufacturing enterprises.colleges and universities and scientific research. are the necessary tools fortesting and analyzing the quality of semiconductor materials.Liquid crystaldisplay. automatic measurement and coefficient compensation. with temperaturecompensation function. automatic conversion range.High precision AD chipcontrol. constant current output. reasonable structure and light weight.Optional to buy: PC software. save and print data. generate reports

廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等

It is widely used in:

Covering membrane;Conductive polymer film.high and low temperature electric film.Insulation. anti-radiation conductivefilm (shielding) cloth. decorative film. decorative paper.Metallized labels andalloy foil films.Smelting. sintering. sputtering. coating. Coating .resistive. capacitive touch screen.Electrode coating. other semiconductormaterials. thin-film material square resistance testing.

Silicon block. chip resistance rate anddiffusion . epitaxial . ITO conductive foil. conductive rubbermaterials such as square resistance semiconductor materials/wafer. solar cells.electronic components. conductive film (ITO conductive film glass. etc.). lfilm. conductive film. aluminium film evaporation. PCB copper foil membrane.EMI coating materials such as Conductive fiber. conductive ceramics. Etc

四.型號及技術參數Models andtechnical parameters

規格型model	FT-331	FT-332	FT-333	FT-334	FT-335	FT-336
1.方塊電阻范圍Sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
2.電阻率范圍Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×105Ω-cm
測試電流范圍 Test current	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	10μA，100µA，1mA，10mA， 100mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100mA
4.電流精度 Current accura	±0.1%	±0.2%	±0.2%	±0.3%	±0.3%	±0.3%
5.電阻精度Resistance	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.顯示讀數display	液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity
7.測試方式test mode	普通單電測量general single electrical measurement
8.工作電源power	輸入: AC 220V±10%.50Hz 功耗：<30w>
9.誤差errors	整機不確定性Machine uncertain errors≤4%（標準樣片結果 Standard Sample results）
10.選購功能choose to buy	選購1.pc軟件；選購2.方形探頭；選購3.直線形探頭；選購4.測試平臺；5.標準電阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform.
11.測試探頭Test probe	探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles.