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美國Ultrafast高速光譜儀

時(shí)間:2020/5/8閱讀:325
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美國Ultrafast高速光譜儀

 

Ultrafast Systems成立于2002年,總部位于佛羅里達(dá)州。專注于時(shí)間分辨激光光譜儀的設(shè)計(jì)和制造。產(chǎn)品系列包含許多光譜儀,它們的光譜和時(shí)間覆蓋范圍非常廣,可用于吸收和發(fā)射測量。產(chǎn)品易于使用,在很大程度上都是自動(dòng)化的,而有些則具有全自動(dòng)的功能。通過多年來不斷地研究創(chuàng)新,為客戶提供高品質(zhì)的產(chǎn)品及服務(wù),滿足客戶需求。

 

產(chǎn)品范圍:

美國Ultrafast高速光譜儀、光譜儀、納秒瞬態(tài)吸收光譜儀可調(diào)皮秒光源。

 

應(yīng)用:

光物理、光化學(xué)、光生物學(xué)、材料科學(xué)、納米科學(xué)以及太陽能轉(zhuǎn)換和存儲(chǔ)。

 

相關(guān)產(chǎn)品介紹:

EOS IR是一款寬帶中紅外泵浦探頭納秒瞬態(tài)吸收光譜儀。作為一個(gè)完整的交鑰匙系統(tǒng),EOS IR可以在較大的時(shí)間窗口內(nèi)以納秒級(jí)的時(shí)間分辨率(可調(diào)整至亞毫秒級(jí))測量寬范圍(2-13 µm)光譜范圍內(nèi)光誘導(dǎo)的吸光度變化。雖然EOS IR可以作為獨(dú)立的光譜儀使用,但通常與我們的寬帶泵浦探針飛秒瞬態(tài)吸收光譜儀HELIOS IR集成在一起。 EOS IR和HELIOS IR共享大部分組件,包括光學(xué)元件和檢測器。因此,使集成成本效益。集成后,HELIOS IR和EOS IR覆蓋了從皮秒到亞毫秒的時(shí)間范圍,沒有任何間隙。

 

探針光譜范圍:通常為2-13 µm。可擴(kuò)展至20 µm。

 

可變光譜分辨率和光譜范圍

當(dāng)EOS-IR與陣列(多像素)檢測器一起使用時(shí),必須能夠改變將探針光譜成像到傳感器上的分辨率。這使得可以確保解析出所需的光譜特征,并且還可以控制所采集的光譜范圍。為此,我們利用三光柵成像光譜儀(320毫米; f / 4.1)來實(shí)現(xiàn)不同的檢測帶寬和光譜分辨率。

 

該系統(tǒng)標(biāo)配以下光柵:

3-9 µm,0.4 µm帶寬,分辨率為6.2 nm

4-10 µm,0.8 µm帶寬12.4 nm分辨率

3-9 µm,1.2 µm帶寬18.6 nm分辨率

 

亞毫秒級(jí)時(shí)間范圍內(nèi)的亞納秒分辨率

EOS IR是一種泵浦探針式光譜儀,具有基于連續(xù)光電方法的常規(guī)閃光光解法無法實(shí)現(xiàn)的時(shí)間分辨率。在EOS IR中,泵探測延遲是電子控制的,并且max時(shí)間窗口非常接近泵激光器重復(fù)周期的一半。可以將max時(shí)間窗計(jì)算為:(泵浦激光重復(fù)周期)/ 2-100 µs。例如,對于1 kHz泵浦激光器,該值為400 µs。

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