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Appnano 熱掃描探針系統(tǒng)

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更新時(shí)間：2022-08-03 14:06:49瀏覽次數(shù)：853次

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熱掃描探針系統(tǒng)

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上海納騰儀器有限公司

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產(chǎn)品簡介

Thermal probe system熱掃描探針系統(tǒng)，聯(lián)用AFM顯微鏡，既能實(shí)現(xiàn)AFM探針常規(guī)輕敲和接觸掃描，獲得高清晰度的圖像，同時(shí)能夠?qū)崿F(xiàn)樣品熱學(xué)性質(zhì)的探測。尤其適用于高分子材料組分熱學(xué)性質(zhì)評估。

詳細(xì)介紹

模塊性能：

可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)樣品表面形貌掃描和材料相關(guān)熱學(xué)性能測試

1）溫度；

2）溫度梯度變化曲線；

3）定性熱導(dǎo)率；

4）相變溫度；

5）定性熱容量；

模塊優(yōu)勢：

1）高性價(jià)比，能實(shí)現(xiàn)熱學(xué)掃描及熱學(xué)性質(zhì)測試的功能，價(jià)格僅為其為同類產(chǎn)品的一半；

2）精細(xì)測量，能達(dá)到20nm區(qū)域測溫；

3）耐高溫，針尖在700℃高溫下也不易變形；