HIOKI IM3570阻抗分析儀性能：
1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
日本日置HIOKI IM3570阻抗分析儀基本參數
1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查
LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
日本日置HIOKI IM3570阻抗分析儀基本參數
| 測量模式 | LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量 |
| 測量參數 | Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q |
| 測量量程 | 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定） |
| 顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999） Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%） |
| 基本精度 | Z：±0.08%rdg. θ：±0.05° |
| 測量頻率 | 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進） |
| 測量信號電平 | V模式，CV模式（普通模式） 50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下） 10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上） CC模式（普通模式） 10μA~50mA rms，10μA rms步進（1MHz以下） 10μA~10mA rms，10μA rms步進（1.0001MHz以上） |
| 輸出阻抗 | 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω |
| 顯示 | 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF |
| 測量時間 | 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值） |
| 測量速度 | FAST/MED/SLOW/SLOW2 |
| 其他功能 | DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能 |
| 接口 | EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN |
| 電源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 打印 | 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446） |
| 接口 | GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準) |
| 電源 | AC90~264V，50/60Hz，大150VA |
| 體積和重量 | 330W×119H×307Dmm，5.8kg |
| 附件 | 電源線×1 |
主機不標配治具。請根據您的需求選擇選件中的治具和探頭
HIOKI IM3570阻抗分析儀可選件：
4端子探頭L2000:DC~5MHz，1m長
測試冶具 9262:直接連接型, DC～5 MHz
測試冶具 9263:DC~5MHz，直接連接型，測試樣品尺寸：1mm~10mm
SMD測試治具9677:用于側面有電極的SMD;DC~120MHz，測試樣品;尺寸：3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9699:用于底部有電極的SMD;DC~120MHz，測試樣品;尺寸：寬1.0~4.0mm，高1.5mm以下
阻抗分析儀是以讓測量頻率和測量電壓連續變化的同時，掃描測量被測物的特性為主要功能。可用于如線圈、變壓器、電容、壓電元件的開發和檢查等用途中。因此，阻抗分析儀對于復蘇中的電子零部件市場，可以說是不可欠缺的測量儀器。
※阻抗：交流電路中電流不容易流通的程度。單位為Ω。
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