徠卡DM4M和DM6M在材料科學分析領域的應用
徠卡工業測量正置顯微鏡Leica DM4 M 手動工業測量顯微鏡 和 Leica DM6 M 全自動工業檢查顯微鏡在材料科學與分析領域中對許多樣品進行成像、測量分析是理想的選擇.
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上海百賀儀器科技有限公司
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將目視檢驗和定性化學檢驗組合在一個工作步驟中，與使用傳統 SEM/EDS 檢驗相比， 測定微觀結構成分 的時間可節省 90%。集成激光光譜功能可在一秒鐘內針對您在顯微鏡中看到的材料結構提供準確的化學元素圖譜。
徠卡正置顯微鏡DM6 M LIBS
實現快速精確材料分析的二合一系統
DM6 M LIBS 的集成激光光譜功能可在一秒鐘內提供在顯微鏡圖像中所觀察微觀結構的化學成分。
識別感興趣的微觀結構成分，隨后只需單擊一下，即可觸發 LIBS 分析。
優勢概覽
與典型的電鏡方法*相比，節省 90% 的時間，而且
以可靠的目視和化學檢驗材料信息為基礎，快速做出自信的決策。
*可根據要求提供證明
無需 SEM 樣品制備
為什么使用 DM6 M LIBS 解決方案進行材料分析能節省 90% 的時間？因為這種解決方案：
無需樣品制備和轉移；
無需系統調節；且
無需重新定位感興趣區域 (ROI)。
減少工作流程
將工作流程精簡至只有一個步驟，以結果為重點。
組件清潔度分析
DM6 M LIBS 二合一系統與 Cleanliness Expert 分析軟件相結合，讓您僅使用一臺儀器和一個工作流程即可對過濾器上的樣品進行目視和化學檢驗。
這樣可以更輕松地找到污染源。
做出自信的決策
通過快速獲取顆粒成分和結構的數據，您將得到在分析過程中更加迅速地做出自信決策的優勢。
微觀結構成分的評估
DM6 M LIBS 二合一解決方案可助您執行物相的結構和元素/化學分析，例如礦石、合金、陶瓷等。
無需進行樣品制備，也無需在 2 個或更多設備之間進行轉移。整個分析工作流程全部在一臺儀器上完成。
減少占用人力資源的樣品制備
減少占用人力資源的樣品制備和成本高昂的 SEM/EDS 分析，從而節省時間和資金。
徠卡工業測量正置顯微鏡Leica DM4 M 手動工業測量顯微鏡 和 Leica DM6 M 全自動工業檢查顯微鏡在材料科學與分析領域中對許多樣品進行成像、測量分析是理想的選擇.
徠卡公司針對微電子和半導體行業的檢驗、流程控制或缺陷和故障分析的應用特點，可提供不同需求的個化性化解決方案。
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