FEI掃描電鏡Q25 / Q45

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更新時(shí)間：2024-02-17 16:31:57瀏覽次數(shù)：230次

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FEI掃描電鏡Q25 / Q45對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案.在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他們所需的數(shù)據(jù).

詳細(xì)介紹

對(duì)于失效分析、質(zhì)量控制和材料表征而言、Q25是、的高分辨成像和分析應(yīng)用的解決方案。在設(shè)計(jì)上側(cè)重易用性、Q25可以讓用戶迅速得到他

們所需的數(shù)據(jù)。為應(yīng)對(duì)不導(dǎo)電樣品、Q25提供了低真空模式下的高性能、消除了對(duì)專用的樣品制備步驟或者附加的樣品鍍膜儀的需求。Q25樣品室的設(shè)計(jì)和真

空系統(tǒng)能夠快速更換樣品、允許日常高效、快速檢測(cè)樣品。為滿足客戶對(duì)大樣品或塊狀樣品的要求、Q45提供了更大的真空樣品室和100mm的樣品臺(tái)行程。另

外、Q45加上了環(huán)境掃描（ESEM）模式、擴(kuò)展了SEM的成像和分析功能到加熱、含水或放氣的樣品。

Q45 材料科學(xué)應(yīng)用

為應(yīng)對(duì)研究寬范圍的材料及結(jié)構(gòu)及成分表征的需求，F(xiàn)EI Q45 SEM為應(yīng)對(duì)當(dāng)今的寬范圍研究需求的挑戰(zhàn)提供了靈活性和多功能。觀察任何樣品和獲得所有數(shù)據(jù)：表面和成分像可以和附件結(jié)合起來(lái)確定材料的性能和元素組成

優(yōu)點(diǎn)

在所有的操作模式下可以用SE或BSE圖像表征導(dǎo)電或不導(dǎo)電樣品。

樣品制備工作最少化；低真空和環(huán)境掃描模式實(shí)現(xiàn)了無(wú)荷電成像及不導(dǎo)電樣品和/或含水樣品的分析

增加了除導(dǎo)電樣品之外的非導(dǎo)電樣品的分析能力，利用多級(jí)穿過(guò)透鏡的抽氣系統(tǒng)在高低真空模式下完成EDS和EBSD分析。

利用穩(wěn)定的高束流（上至2 μA）電子束可以迅速獲得精確的分析結(jié)果。

采用為ESEM選配的帕爾貼冷臺(tái)可在樣品的自然含水狀態(tài)下完成樣品的動(dòng)態(tài)原位分析。

簡(jiǎn)單易用，即使是新手利用直觀的軟件可實(shí)現(xiàn)高效操作。