上海百賀儀器科技有限公司
電子探針EPMA-1720 Series從軟件到硬件凝結了,鑄就了新一代EPMA.島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎上,又新增了簡單·易懂的操作性能,將電子探針功能發揮致.既可滿足初學者簡易操作的需求,又能適合專家級的科研分析.
設計的X射線分光器可以實現高靈敏度·高精度分析
X射線取出角決定分析性能，52.5°高取出角更勝
圖為小孔穴中異物的分析實例。左下圖為鐵（Fe）、右下圖為鈦（Ti）的元素分布。因EPMA-1720具有高取出角，對表面凹凸明顯的樣品也能進行高精度分析。
從SEM觀察到開始分析，簡便易行，大幅度提高工作效率。
同一顯示器上同時顯示高靈敏度的光學圖像和SEM圖像
在同一個顯示器上觀察光學圖像和SEM圖像。
通過高靈敏度的CCD可以觀察很暗的樣品。
只需點擊【SEM AUTO】圖標，就可以根據事先設定的條件進行SEM圖像的觀察。
只需選定束流目標值即可快速、高精度地自動設定束流。
通過聯動控制，束流大小改變后也能保持圖像聚焦狀態。
納米材料是指三維空間尺寸中至少有一維處于納米數量級（1~100 nm），或由納米結構單元組成的具有特殊性質的材料，被譽為“21世紀重要戰略性高技術材料之一"。當材料的粒度大小達到納米尺度時，將具有傳統微米級尺度材料所不具備的小尺寸效應、量子尺寸效應、表面效應等諸多特性，這些特異效應將為新材料的開發應用提供嶄新思路。
測量要求 掃描面板探針表面三維形貌，提取profile測量探針頂端的磨損情況
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