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上海百賀儀器科技有限公司
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。
輝光放電光譜儀GD-Profiler詳細介紹
法國Jobin Yvon GD-Profiler型輝光放電光譜儀是快元素深度分布分析工具。對于解決分析問題,即使是復雜的基體,提供高分別率和元素數量。60種元素(包括氣體元素)可以同時分析。他集合了JY公司30多年在GDS上的經驗。 它可以讓你快速得到深度方向關于C,N,O和其他元素的信息,從而讓你可以更好的控制熱處理工藝的過程。在冶金工業中,化學成份的分析是對力學試驗的補充。其應用尤其適合于汽車,齒輪,風車等行業。
輝光放電光譜儀GD-Profiler主要特點
●RF射頻發生器- 標準配置,可進行元素總量分析,分析時間約為90秒,分析速度比其他表面分析技術快上100倍;濺射率一般為3µm/min;
●實現從1nm至深達150µm的元素深度分布分析;
●射頻輝光放電光譜的靈敏度為10 原子/cm ;
●一次激發可以同時分析所有元素(包括H, O, Cl等) ;
●脈沖射頻設計的光源為導體、非導體、薄膜、涂層、合金、陶瓷、粉末等類型的物質提供了廣>的分析應用前景;
●多道(同時)型光學系統可全譜覆蓋,光譜范圍:110nm至800nm,包含遠紫外;
●低至0.3L/分鐘的氬氣消耗降低了分析成本;
●的單色儀(選配件)可極大的提高儀器的靈活性,即能實現n+1通道分析;
●HDD 檢測器可進行>速而高靈敏的檢測,動態范圍達到10個量級;
●寬大的樣品室方便各類樣品的加載;
●激光指點器(CenterLite laser pointer,申請中)可用于精確加載樣品。
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