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上海百賀儀器科技有限公司
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島津粒度分析儀 IG-1000對于納米顆粒的測量,常規方法采用動態光散射方法,但對于小于100納米的粒子,光將被分散,強度急驟減弱.此外,在單納米粒度區域（例如，粒度小于10納米）,物理限制使得很難探測到散射光,因此粒度的測量也會變得困難.IG方法不使用散射光,所以它不受物理限制,并且它不需要輸入折射率作為測量條件.因此它使得納米粒子的測量變得簡易,并具有高靈敏度，尤其是對單納米顆粒粒子分析非常有......
IG-1000 單納米粒度測定裝置：超越單納米區域，深入亞納米區域。
該儀器采用誘導光柵（IG）方法，這種全新的方法基于利用雙向電泳和衍射光現象測量來實現納米范圍粒度的測定。
對于納米顆粒的測量，常規方法采用動態光散射方法，但對于小于100納米的粒子，光將被分散，強度急驟減弱。此外，在單納米粒度區域（例如，粒度小于10納米），物理限制使得很難探測到散射光，因此粒度的測量也會變得困難。IG方法不使用散射光，所以它不受物理限制，并且它不需要輸入折射率作為測量條件。因此它使得納米粒子的測量變得簡易，并具有高靈敏度，尤其是對單納米顆粒粒子分析非常有效。
單納米粒子的高靈敏度分析
誘導光柵技術使用粒子形成的衍射光柵發射出的衍射光，而不是粒子發射出散射光，因此，即便在單一納米顆粒區域，也可獲得充足的信噪比，重復性好，測量穩定。
耐污染
新的測量原理耐受污染，即使樣品混雜了少量異物，要分析的微粒信息也應可靠有效。這意味著以去除粗顆粒為目的樣品過濾是不需要的。
高重現性
穩定的數據。特別是粒度小于10 nm的微粒具有高重復性，避免了單納米顆粒區域內顆粒分析的不確定性和模糊性。同時，可利用衍射光的原始數據進行測量間的比較，藉此可粗輕松的驗證測量結果。
納米粒子在介質中的折射率的變化量受其濃度影響。因此，如果在外力的作用下讓顆粒在介質中形成周期性變化的顆粒濃度分布，形成類似光柵的的形狀，那么它將起到衍射光柵的作用。如果除去外力，隨著粒子的分散，光柵也會消失。具體到IG方法，是通過出去外力后，粒子聚集形成衍射光柵逐漸消失所引起的衍射光強度的變化的強度和時間來測定粒子粒徑的。
由雙向電泳形成的微粒的衍射光柵
交變電壓被應用于周期性排列的電極上，電場作用下微粒在液體中電泳并形成周期性濃度分布，聚集的微粒形成了衍射光柵。雖然微粒的周期濃度分布起到衍射光柵（粒子濃度光柵）的作用，但是如果停止交流電壓，粒子將自由擴散并使光柵隨之消失（申請中）。
IG方法要點
的電極設計實現了準確的測定
周期性排列的電極本身也作為一種衍射光柵。而電極衍射光柵產生的衍射光比顆粒濃度衍射光柵產生的衍射光弱，為了精確測量由顆粒濃度衍射光擴散造成的主要衍射光的變化，需確保兩種衍射光柵的產生衍射光的位置不重合。為了達到這個目的，電極設計如圖所示修改，以便電極衍射光柵的間距為顆粒濃度光柵的一半（申請中）。
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