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JEOL JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡

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產品型號JEM-3200FS

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更新時間：2024-02-13 15:56:16瀏覽次數：131次

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上海百賀儀器科技有限公司

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產品簡介

JEOL JEM-3200FS 場發射透射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器,能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案.

詳細介紹

JEM-3200FS場發射電子顯微鏡配備了加速電壓為300kV的場發射電子槍（FEG）和鏡筒內置式Ω型能量過濾器，能為廣泛的研究領域提供各種全新的解決方案。
鏡筒內置式Ω型能量過濾器(omega 過濾器)
鏡筒內置式Ω型能量過濾器內置于成像透鏡系統，能容易地獲得能量過濾像和能量損失譜，同時還能獲得與傳統電子顯微鏡同等的放大倍率范圍。此外、Ω型過濾器的電子光學系統在設計上地減少了圖像畸變，出廠前還將剩余一點的畸變做了最后的修正。JEM-3200FS還采用了高靈敏度的相機系統及圖像處理系統（選配件），可以構建元素面分布系統及能量損失譜系統。
新型控制系統
電子槍、電子光學系統、測角臺、抽真空系統等電子顯微鏡基本功能的系統化，實現了高穩定、高性能的控制系統。圖像畫面和用戶界面采用Windows ®*1，可以進行編程操作和附件的集中控制。
新型測角臺
系統化的新型測角臺內置壓電陶瓷驅動機構，使高倍率下的樣品移動更加精確。*2.
*1 : 注意事項：Windows是微軟公司在美國和其他國家的注冊商標。
*2 : 僅有壓電元件包括在基本單元中，壓電元件的電源為選配件。