鍍層厚度測量儀

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產品型號XULM

品牌

廠商性質代理商

所在地深圳市

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更新時間：2018-05-16 14:58:45瀏覽次數：774次

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金霖電子（香港）有限公司

經營模式：代理商

商鋪產品：16條

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產品簡介

鍍層厚度測量儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統，使用WinFTMV6操作軟件能更簡單,快速測量樣品.

詳細介紹

鍍層厚度測量儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結構鍍層的測量系統，使用WinFTMV6操作軟件能更簡單,快速測量樣品，帶測量距離固定的X-射線頭，這一特性提供了能在複雜幾何外形的測試工件和不同測量距離上實現簡便測量的可能性。鍍層厚度測量儀在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較複雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。

典型的應用范圍如下：
單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
zui多24種鍍層（使用WinFTM? V.6軟件）。
分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。
分析電鍍溶液中的金屬離子濃度。

期待您的來電，金東霖科技吳：29371653 公司：www.kinglinhk.com 地址：寶安中心區宏發中心大廈