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X-RAY膜厚儀

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產品型號XULM

品牌

廠商性質代理商

所在地深圳市

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更新時間：2022-07-12 14:53:44瀏覽次數：972次

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金霖電子（香港）有限公司

經營模式：代理商

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聯系人：吳靜（銷售）

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產品簡介

X-RAY膜厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板.

詳細介紹

x-ray膜厚測試儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規模生產的零部件及印刷線路板，x-ray膜厚測試儀采用全新數學計算方法,采用的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及強大的電腦功能來進行鍍層厚度的計算，在加強的軟件功能之下，簡化了測量比較復雜鍍層的程序，甚至可以在不需要標準片之下，一樣精準測量。

x-ray膜厚測試儀能夠有效并精確的測量合金屬成分，只需短短數秒鐘，所有從17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定.可測量：單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。
雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。
雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。

期待您的來電，金東霖吳：29371653 公司：www.kinglinhk.com 地址：深圳寶安中心區創業一路宏發中心大廈

關鍵詞：光譜儀