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X射線膜厚儀

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產(chǎn)品型號XUL

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更新時間：2022-07-12 14:52:11瀏覽次數(shù)：894次

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金霖電子（香港）有限公司

經(jīng)營模式：代理商

商鋪產(chǎn)品：16條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：吳靜（銷售）

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產(chǎn)品簡介

X射線膜厚儀是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線光譜儀.適合無損測量薄鍍層厚度及材料分析,同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板.其比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進(jìn)行高精度測量.

詳細(xì)介紹

X射線膜厚儀的可測元素范圍：
氯（CL） – 鈾（U）
可測量厚度范圍：
原子序22-25，0.1-0.8μm≤
26-40，0.05-35μm
43-52，0.1-100μm
72-82，0.05-5μm
X-射線管：油冷,超微細(xì)對焦
高壓：0-50KV（程控）
電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

綜合性能:鍍層分析定性分析定量分析鍍液分析
鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.
鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度（如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等）,簡單的核對方式,無需購買標(biāo)準(zhǔn)藥液.
定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.
光譜對比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來料的純度.
統(tǒng)計功能:能夠?qū)y量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計,方便有效的控制品質(zhì).
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關(guān)鍵詞：光譜儀顯示器