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深圳市金東霖科技有限公司
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菲希爾 XDVM測厚儀，可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等)
菲希爾 XDVM測厚儀，是針對高要求用戶設計的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細的表面結構，它的新穎X－射線光學鏡片，創新的X-射線光學原理，使這部儀器能產生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數十微米的面積的結構也變成可能。配備了半導體接收器適合測量薄到數NM的鍍層，FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描（面積），如：硬盤鍍層、細微的線。有*精度，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計，容許放入大面積的物件進行測量。：王生： ： 地址：寶安中心區宏發中心大廈
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