當前位置：深圳市金東霖科技有限公司>>膜厚儀>>FISCHER膜厚測試儀>>菲希爾（FISCHER）膜厚儀

菲希爾（FISCHER）膜厚儀

返回列表頁

參考價

面議

具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號

品牌

廠商性質(zhì)代理商

所在地深圳市

在線詢價收藏產(chǎn)品查看聯(lián)系電話

聯(lián)系方式：王生查看聯(lián)系方式

更新時間：2022-08-03 13:42:16瀏覽次數(shù)：314次

聯(lián)系我時，請告知來自環(huán)保在線

產(chǎn)品分類 品牌分類

  膜厚儀

FISCHER膜厚測試儀

全部產(chǎn)品列表

暫無信息

深圳市金東霖科技有限公司

經(jīng)營模式：代理商

商鋪產(chǎn)品：36條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：王生

詢價 給他留言

產(chǎn)品簡介

菲希爾（FISCHER）膜厚儀檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質(zhì)，減少電鍍成本浪費.

詳細介紹

菲希爾（FISCHER）膜厚儀是一款可靠的采用X-射線熒光方法和*的微聚焦X-射線光學方法來測量和分析微觀結(jié)構(gòu)鍍層的測量系統(tǒng)。
它的出現(xiàn)解決了分析和測量日趨小型化的電子部件，包括線路板，芯片和連接器等帶來的挑戰(zhàn)。這種創(chuàng)新技術(shù)的，目前正在申請的X-射線光學可以使得在很小的測量面積上產(chǎn)生很大的輻射強度，這就可以在小到幾?reg;微米的結(jié)構(gòu)上進行測量。在經(jīng)濟上遠遠優(yōu)于多元毛細透鏡的Fischer專有X-射線光學設(shè)計使得能夠在非常精細的結(jié)構(gòu)上進行厚度測量和成分分析。XDVM-μ可以勝任測量傳統(tǒng)的鍍層厚度測量儀器由于X-射線熒光強度不夠而無法測量到的結(jié)構(gòu)。具有強大功能的X-射線XDVM-μ帶WinFTM? V6 軟件可以分析包含在金屬鍍層或合金鍍層中多達24種獨立元素的多鍍層的厚度和成分。有需要的有友請希望我們能成為*的合作伙伴。：王生：：地址：寶安中心區(qū)宏發(fā)中心大廈

關(guān)鍵詞：芯片

其他推薦產(chǎn)品更多>>