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鉑悅儀器(上海)有限公司 廣州辦事處
M1 MISTRAL的應用領域很廣,我們選擇常見的例子進行介紹
測量鍍層樣品:
采用X射線熒光技術的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數法,可以同時基數按鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性
M1 MISTRAL的應用領域很廣,我們選擇常見的例子進行介紹
測量鍍層樣品:
采用X射線熒光技術的M1 MISTRAL可以分析薄鍍層樣品,如印刷電路板、金屬或塑料件,包括單層鍍層和多層鍍層。XSpect軟件采用無標樣基本參數法,可以同時基數按鍍層厚度和鍍層組成。使用標準樣品可以進一步提高定量分析的準確性
測定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pb-Ni-Cu
珠寶及合金分析:
M1 MISTRAL是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品、不到1分鐘就可以確定其準確成分。分析結果可以用百分含量或K(開)表示
M1 MISTRAL是采用X射線熒光技術的光譜儀,可對大件樣品和鍍層樣品進行準確的分析。分析的元素范圍:原子序數22號(鈦)以上的所有元素。分析的樣品類型:各類不同的材料,如金屬、合金、金屬鍍層包括多層鍍層樣品
樣品尺寸zui大可達100×100×100mm,無需任何處理,直接放在樣品臺上檢測。
光管位于樣品上方,測量過程中部接觸樣品,因此可以很容易地分析復雜式樣的樣品,如精工細作的珠寶和不容厚度的樣品。
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關的準確信息。
該儀器具備高空間分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品,例如zui復雜的珠寶,而無需進一步的制備,更重要的是,它的分析是無損的。支持的樣品尺寸zui大可達 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡,可以精確定位到您要測量的位置。電動 Z 型取樣臺允許快速聚焦。可選的 X-Y-Z 取樣臺甚至可以提供更大的舒適性。
M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點 X 射線管,確保出色的激發測量光斑,產生高熒光效應。憑借功能強大、易于使用的 XSpect 軟件套件,該儀器可交付準確的量化結果,而不論是分析塊狀材料還是zui復雜的多層結構。
· 適用于各種樣品類型和應用領域
· 用于快速現場分析的便捷式系統
· 沒有基體或記憶效應
運行費用低,無需任何介質、處理或定期維護
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