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上海隆拓儀器設備有限公司
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薄膜測厚儀，CH-1-ST型薄膜測厚儀:
本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。
本測厚儀執行GB-T6672-2001標準。：
CH-1-ST型薄膜測厚儀技術參數：
量限:0-1mm
◎分度值:0.001mm
◎上測頭曲率半徑:15-50mm
◎測頭對試樣施加負荷:0.1-0.5N
◎測量精度: 100vm以內 <1vm/100-250vm <2vm/250vm <3vm
◎執行標準:GB6672-86
◎本測厚儀適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）.
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