一，產品概述

     本儀器是磁性、渦流一體的便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。是材料保護專業的儀器。本儀器符合以下標準： GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導電覆蓋層厚度測量 渦流方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》 JJG 818─93 《電渦流式測厚儀》

二，功能特點

• 全中文菜單
• 自動識別金屬底材
• 自動選擇測量方法--磁性法或電渦流法
• 兩種測量方式：連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
• 兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
• 五個統計量：平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
• 可采用兩種方法對儀器進行校準
• 存貯功能：可存貯500 個測量值
• 刪除功能：對測量的單個或所有數據進行刪除
• 可設置限界：對限界外的測量值能自動報警
• 電源欠壓指示
• 操作過程有蜂鳴聲提示（單次測量方式）
• 錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示
• 設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式
• TT210采用一體化測頭
• TT212采用分體式測頭
• TT213采用分體式測頭（渦流法）

  三，技術參數

  測頭類型		F	N
  工作原理		磁感應	電渦流
  測量范圍		0-1250um	0-1250um/0-40um(銅上鍍鉻)
  低限分辨力		0.1µm	0.1µm
  示值誤差	零點校準(um)	±[3%H+1] ，H指被測物體的實際厚度、下同	±[3%H+1.5]
  	二點校準(um)	±[(1～3)%H+1]	±[（1%~3%）H+1.5]
  測量條件	最小曲率半徑(mm)	凸 1.5	凸3
  	最小面積的直徑(mm)	ф7	ф5
  	基體臨界厚度(mm)	0.5	0.3
  溫濕度		0~40℃ 20%RH～90%RH
  統計功能		平均值（MEAN）、值（MAX）、最小值（MIN）、 測試次數（NO．）、標準偏差（S．DEV）
  工作方式		直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)
  測量方式		連續測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）
  上下限設置		有
  存儲能力		500 個測量值
  打印/連接計算機		可選配打印機/不能連接電腦
  關機方式		手動和自動
  電源		二節AAA型（7號）1.5V電池
  外形尺寸		110×50×23mm
  重量		100g

  四，基本配置

  主機
  標準片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）
  基體
  二節AAA型（7號）1.5V電池