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深圳市創鑫儀器有限公司
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IEC60529試驗探棒產品概述：符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
IEC60529試驗探棒
IP1X試驗探棒|IEC61032圖1|Test probe A
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數：
1、探球直徑：50mm
2、擋板直徑：50mm
3、擋板厚度：4mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖1(Test probe A) 。
IP2X試驗探棒|IEC61032圖2|Test probe B
產品概述：
符合GB4706、GB2099、GB4943、GB4208IPX2、GB3883圖1、IEC61032圖2試具B、IEC950圖2A、IEC60884、IEC60335、GB/T16842試具B、UL507、EN60529圖1、UL1278圖8.4等標準要求。用于防止手指觸及或防觸電檢驗的防護檢驗。
技術參數：
1、彎指直徑：12 mm
2、彎指長度：80mm（三節總長度）
3、擋板直徑：50mm
4、擋板長度：100mm
5、參考標準：GB4706.1-2005第8.1.1條、IEC61032：1997 圖2
IP3X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe C
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：2.5mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖3(Test probe C) 、GB/T4208-2008表6。
IP4X試驗探針|IEC61032圖3|Test probe D
基本簡介：
1、根據GB/T4208-2008、IEC61032:1997、IEC60529:2001及UL等相應條款制作而成。
技術參數：
1、探棒長度：100mm
2、探棒直徑：1mm
3、檔球直徑：35mm
4、手柄直徑：10mm
5、手柄長度：100mm
6、根據IEC61032圖4(Test probe D) 、
相關標準試驗指如下：
IEC61032標準試驗指
GB4208標準試驗指
GB4706.1標準試驗指
GB4706.1標準圓檔板試驗指（直徑50mm)
GB4706.38標準試驗指
直徑125mm 厚度80mm 大檔板試驗指（IEC60332-2-14標準）
直徑125mm 大檔板試驗指（GB4706.30標準）
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