電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
本部分規定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設備的檢驗項目、檢驗用主要儀器及要求、檢驗負載、檢驗條件、檢驗方法、數據處理結果與檢驗結果、檢驗周期等內容。本部分適用于對GB/T 2423.1《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫》、GB/T 2423.2《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》和GB/T 2423.22《電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化》所用試驗設備的檢驗/驗收檢驗和周期檢驗。 本部分代替ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６。與ＧＢ／Ｔ５１７０．２—１９９６相比，技術內容主要有如下變化：———標準名稱“電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備”更改為“電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備”；
———所有用詞“檢定”更改為“檢驗”；
———增加了“術語和定義”一章；
———增加了“溫度波動度”檢驗項目；
———增加了“溫度均勻度”檢驗項目；
———增加了“每５ｍｉｎ溫度平均變化速率”檢驗項目；
———增加了“溫度指示誤差”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖量”檢驗項目；
———增加了“溫度過沖恢復時間”檢驗項目；
———增加了“噪聲”檢驗項目；
———刪除了“相對濕度”檢驗項目；
———在“檢驗用主要儀器及要求”一章中，給出了溫度測量系統其測量結果的擴展不確定度（k＝２）的要求
———增加了“檢驗負載”一章；
———修改了“溫度變化速率”的計算方法；
———測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據；
———刪除了“檢定過程中的處理”部分；
———附錄Ａ“測量記錄表格示例”更改為“檢驗項目的選擇”；
———刪除了附錄Ｂ “溫度波動度、溫度均勻度檢定方法”。 |
GB/T5170目前包含以下幾部分:
---GB/T5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則
---GB/T5170.2-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備
---GB/T5170.5-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 濕熱試驗設備
---GB/T5170.8-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 鹽霧試驗設備
---GB/T5170.9-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 太陽輻射試驗設備
---GB/T5170.10-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 高低溫低氣壓試驗設備
---GB/T5170.11-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 腐蝕氣體試驗設備
---GB/T5170.13-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動（正弦）試驗用機械振動臺
---GB/T5170.14-1985 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動（正弦）試驗用電動振動臺
---GB/T5170.15-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 振動（正弦）試驗用液壓振動臺
---GB/T5170.16-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 穩態加速度試驗用離心機
---GB/T5170.17-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設備
---GB/T5170.18-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/濕度組合循環試驗設備
---GB/T5170.19-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度/振動（正弦）綜合試驗設備
---GB/T5170.20-2005 電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 水試驗設備
本部分是GB/T5170的第2部分。
本部分代替GB/T5170.2-1996。與GB/T5170.2-1996相比,技術內容主要有如下變化:
---標準名稱電工電子產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設備更改為電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 溫度試驗設備;
---所有用詞檢定更改為檢驗;
---增加了術語和定義一章;
---增加了溫度波動度檢驗項目;
---增加了溫度均勻度檢驗項目;
---增加了每5min溫度平均變化速率檢驗項目;
---增加了溫度指示誤差檢驗項目;
---增加了溫度過沖量檢驗項目;
---增加了溫度過沖恢復時間檢驗項目;
---增加了噪聲檢驗項目;
---刪除了相對濕度檢驗項目;
---在檢驗用主要儀器及要求一章中,給出了溫度測量系統其測量結果的擴展不確定度（k=2）的要求;
---增加了檢驗負載一章;
---修改了溫度變化速率的計算方法;
---測量數據記錄改為每一分鐘記錄一次數據;
---刪除了檢定過程中的處理部分;
---附錄A測量記錄表格示例更改為檢驗項目的選擇;
---刪除了附錄B 溫度波動度、溫度均勻度檢定方法。
附錄A 為規范性附錄。
本部分由全國電工電子產品環境條件與環境試驗標準化技術委員會（SAC/TC8）提出并歸口。
本部分起草單位:*電子第五研究所。
本部分主要起草人:伍偉雄、謝晨浩、蔡錦文、張孝華、羅軍、薛秀美、孔玉梅、梁為旺、羅國良。
本部分所代替標準的歷次版本發布情況為:
---GB/T5170.2-1985,GB/T5170.3-1985,GB/T5170.4-1985;
---GB/T5170.2-1996。 |
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紫外光耐氣候試驗箱;紫外線加速耐候試驗機;高低溫交變濕熱箱;可程式恒溫恒濕試驗機;溫濕度檢定箱;高低溫恒溫試驗箱;高低溫沖擊試驗箱; 蓄溫式冷熱沖擊試驗機;步入式環境實驗室;步入式恒溫恒濕試驗室;精密烘箱;鼓風干燥箱;鹽水噴霧試驗機;模擬運輸試驗機;跌落試驗機;蒸氣老化試驗機;快速溫變應力篩選試驗機[ESS];其它環境試驗設備
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