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東莞市貝爾試驗設備有限公司
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閱讀:1116發布時間:2010-11-22
為什么要在老化時進行測試: 在老化階段進行半導體測試之所以有意義有多種原因,在探討這些原因之前,我們首先要明確“測試”的真正含義。 一般半導體測試要用到昂貴的高速自動測試設備,在一個電性能條件可調的測試臺上對半導體作測試。它還可以在標稱性能范圍之外進行,完成功能(邏輯)和參數(速度)方面的測試,像信號升降時間之類的參數可到皮秒級。也許是因為可控測試環境只有一個器件作為電性負載,所以信號轉換很快,能夠進行真實的器件響應參數測量。 但在老化的時候,為提高產品的產量是能夠同時對盡可能多的器件作老化。為滿足這一要求,可把多個器件裝在一個大的印刷線路板上,這個板稱為老化板,它上面的所有器件都并聯在一起。大型老化板的物理電氣特性不能和只測試一個器件的小測試臺相比,因為老化板上的容性和感性負載會給速度測試帶來麻煩。所以我們通常無法用老化進行所有功能測試。不過在某些情況下,運用特殊的系統設計技術在老化環境下進行速度測試也是可能的。 老化系統中的“測試”可以指任何方面,從對每一器件每一管腳進行基本信號測試,到對老化板上的所有器件作幾乎100%功能測試,這一切均視器件復雜性及所選用的老化測試系統而定。可以說對任何器件進行100%功能測試都是可以做得到的,但是這樣采用的方法可能會減少老化板上的器件密度,從而增加整體成本并降低產量。 |
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