批發供應便攜式面銅測厚儀CMI563

批發供應便攜式面銅測厚儀CMI563采用微電阻測試技術，提供了準確和**測量表面銅銅厚（包括覆銅板、化學銅和電鍍銅板）的方法。印刷電路板背面銅層不會對這款測厚儀測量結果產生影響。由英國牛津儀器制造開發，深圳市方源儀器有限公司總代理供應。

批發供應便攜式面銅測厚儀CMI563常規測試參數：

銅厚測量范圍：
非電鍍銅：10 μin – 500 μin (0.25um-12.7um),
電鍍銅：0.1 mil – 6 mil (2.5um-152um)
線形銅可測線寬范圍：8 mil – 250 mil (203um– 6350um)

準確度：±1% (±0.1 μm)參考標準片
**度：非電鍍銅：標準差0.2 %；
電鍍銅：標準差0.5 %
分辨率：0.01 mils ≥ 1 mil, 0.001 mils <1 mil,
0.1 μm ≥ 10 μm, 0.01 μm < 10 μm, 0.001 μm < 1 μm

批發供應便攜式面銅測厚儀CMI563特點：

--測厚儀精度高、穩定性好
--強大的數據統計、處理功能
--RS-232接口，可連接打印機或電腦
--測量范圍寬
--NIST認證的標準片

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