1. 測(cè)量原理

1. 磁性法(F型測(cè)頭)

當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度

1. 渦流法(N型測(cè)頭)

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔?，通過測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。

2、產(chǎn)品概述

RT136涂層測(cè)厚儀(也叫覆層測(cè)厚儀、涂鍍層測(cè)厚儀、漆膜測(cè)厚儀)是一種數(shù)顯型便攜式涂層測(cè)厚儀，RT136采用磁性和渦流測(cè)厚法，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量（如電鍍層，油漆層，陶瓷層，氧化膜等）。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域，是材料保護(hù)專業(yè)*的儀器。

3、符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

4、功能特點(diǎn)：

• 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。

(1)磁性測(cè)厚法：可無損地直接測(cè)量磁性材料表面上的非磁性覆蓋層厚度（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等物體表面上的油漆、塑料，陶瓷，橡膠，銅，鋅，鋁，鉻等）。

(2)渦流測(cè)厚法：可無損地直接測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如銅、鋁、鋅、錫等物體表面上的橡膠、油漆、氧化膜）。

• 具有兩種工作方式：存儲(chǔ)模式和正常模式。
• 具有溫度補(bǔ)償功能：國內(nèi)的實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動(dòng)對(duì)環(huán)境溫度及測(cè)頭溫度改變引起的測(cè)量誤差進(jìn)行補(bǔ)償，使測(cè)量更準(zhǔn)確。
• 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。
• 可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。
• 具有存儲(chǔ)功能：zui多可存儲(chǔ)500個(gè)測(cè)量值。
• 具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，以便進(jìn)行新的測(cè)量。
• 可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警。
• 具有電源電量指示功能。
• 設(shè)有三種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)、超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)以及低電量自動(dòng)關(guān)機(jī)方式，并可設(shè)置超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)等待時(shí)間，自動(dòng)關(guān)機(jī)時(shí)伴有背光閃爍及蜂鳴提示。

5、技術(shù)參數(shù)

注：H為測(cè)量厚度標(biāo)稱值

6、標(biāo)準(zhǔn)配置

7、附件：

測(cè)頭選用參考表