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X射線熒光光譜儀

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更新時間：2022-07-12 14:53:44瀏覽次數：683次

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亞泰斯儀器（中國）有限公司

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產品簡介

X射線熒光光譜儀

詳細介紹

高分辨率探測器：美國原裝電制冷Si-PIN探測器，配套原裝數字式多道脈沖幅度分析器，檢測結果和分析速度遠比國內采用線性放電法（模擬）多道分析器精準和快速。

精密穩定的高壓電源：采用工業級X射線熒光分析的精密高壓電源，為X射線光管提供長時間的穩定高壓。

低功率X射線光管：采用W/Rh靶X射線管，*高速風扇制冷，設計壽命5萬小時。

高像素攝像頭：內置高清攝像頭以及微動樣品移動裝置，方便對樣品掃描區域的實時準確定位和觀察。

*的X射線防護體系：采用電源開關鎖、精密樣品蓋開合檢測等安全裝置*防止X射線的泄漏，確保操作人員的安全。

超安全樣品腔：精密科學計算儀器外殼厚度，選擇重量與安全*平衡點，既保證儀器使用的安全，也有效減輕儀器重量。

采用新型濾光片：有效的降低X射線熒光本底，提高檢測靈敏度。*光學準直器，光束zui小直徑達0.025mm，集中X射線光束，增強熒光強度，提高對微量元素的檢測以及超薄鍍層的分析。

*的光譜分析方法：緊跟zui前沿的X射線光譜分析方法，科學的對光譜進行元素定性、定量分析。由于采用了*復雜的計算、校正算法，zui大程度上減少了定量分析需要的標樣，這在同行中處于地位。通過改進硬件，Pb、Cd等的檢測靈敏度提高2倍。

無標樣分析：真正意義上實現無任何標樣的含量、鍍層分析。對于含量分析，高含量元素相對誤差范圍可控制在1%以內；對于鍍層分析，厚度相對誤差范圍可控制在10%以內。

**鍍層厚度分析：選用的功能模塊實現對鍍層厚度的分析，使用戶無需添加額外硬件即可進行鍍層厚度分析。

技術指標
基本參數

探測器
145eV FWHM @ 5.9keV
外型尺寸
650 X 520 X 475 mm

穩定度
小于 0.05%
樣品腔
18 X 490 X 320 mm

測量對象
固體、液體、粉末
輸入電壓
AC 220V /50HZ

測量時間
60-300s
功耗
260W

元素范圍
硫（S）-鈾（U）
重量
48Kg

檢測下限
2ppm
工作溫度
20-30℃

含量范圍
2ppm-99.99%
工作濕度
40-70%

X光管壓
1-50KV

X光管流
1-1000 A

**測鍍層
0-40 m