GB/T18852-2002
本標(biāo)準(zhǔn)*二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。本標(biāo)準(zhǔn)為接觸探傷中使用的探頭在固體內(nèi)產(chǎn)生的聲場(chǎng)提供了測(cè)定方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于檢測(cè)鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產(chǎn)品的探頭測(cè)定。本標(biāo)準(zhǔn)適用的探頭頻率范圍為1MHz-15 MHz。1MHz-15 MHzzui適宜于對(duì)鋼鐵產(chǎn)品的檢測(cè)，5MHz-15 MHzzui適宜于對(duì)像鋁合金之類的細(xì)晶粒結(jié)構(gòu)產(chǎn)品的檢測(cè)。
HS半圓階梯試塊 相關(guān)資料：
HS半圓階梯試塊 相關(guān)資料：
1、 HS半圓階梯試塊（HS試塊），使用時(shí)應(yīng)將試塊置于適當(dāng)?shù)哪炯苌希鳛橹挝锏哪炯芗炔荒苡袚p于試塊，也不能產(chǎn)生任何阻尼。
2、 SHD橫孔試塊，僅在用試塊調(diào)整縱波直探頭探傷靈敏度時(shí)候才使用。縱波直探頭探傷允許采用Φ3、Φ4、Φ6當(dāng)量平底孔三種靈敏度。
相關(guān)產(chǎn)品：
SBS-3滲透探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊 不銹鋼鍍鉻滲透標(biāo)準(zhǔn)試塊 鋁合金滲透對(duì)比試塊 D型磁粉探傷用試片
M1型磁粉檢測(cè)試片 小徑管試塊 階梯試塊 荷蘭試塊 LS-1螺栓試塊 E型 交流標(biāo)準(zhǔn)試塊（3孔試塊）
B型 直流標(biāo)準(zhǔn)試塊（12孔試塊） C型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片 A1型磁粉探傷試片 鍍鉻輻射裂紋參考試塊
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