XP-L2000AB圖像型實驗室透反射偏光顯微鏡
儀器的用途:
XP-L2000AB實驗室透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校更常用的實驗儀器。主要對礦物成份及晶體狀態進行觀察分析.
儀器特點:
XP-L2000AB為引進*生產,全部工藝均按照德國(LEITZ)公司流程生產。
更適合行業:地質研究、高分子分析、教學研究。也被廣泛地應用在纖維、玻璃、半導體、化學等領域。
性能特點:
二. 積木式設計,具有通用互換性。
三. 考慮研究需要,可加裝不同附件,(如冷熱臺,費氏臺)
工作臺面到物鏡端面更大空間尺寸達60mm,在此范圍可任意調節。
四. 全部光學系統采用無應力消色差設計,聚光鏡可進行高低倍轉換,確保各倍數有效的數值孔徑。
五 物鏡轉盤為五孔,可調,定位準確。
七. 立柱傳動部分采用渦輪渦桿設計,配滾珠導軌,全行程移動,到位自鎖,工作臺可載重5公斤不會有下滑現象。
偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在起而開發研制成功的項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像,從而對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印。
XP-L200