XP-L2000AB圖像型實驗室透反射偏光顯微鏡

儀器的用途：

XP-L2000AB實驗室透反射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校更常用的實驗儀器。主要對礦物成份及晶體狀態進行觀察分析.

儀器特點：

XP-L2000AB為引進*生產，全部工藝均按照德國（LEITZ）公司流程生產。

更適合行業：地質研究、高分子分析、教學研究。也被廣泛地應用在纖維、玻璃、半導體、化學等領域。

性能特點:

二． 積木式設計，具有通用互換性。

三． 考慮研究需要，可加裝不同附件，（如冷熱臺，費氏臺）

工作臺面到物鏡端面更大空間尺寸達60mm，在此范圍可任意調節。

四． 全部光學系統采用無應力消色差設計，聚光鏡可進行高低倍轉換，確保各倍數有效的數值孔徑。

五 物鏡轉盤為五孔，可調，定位準確。

七． 立柱傳動部分采用渦輪渦桿設計，配滾珠導軌，全行程移動，到位自鎖，工作臺可載重5公斤不會有下滑現象。

      偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在起而開發研制成功的項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像，從而對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印。
 

XP-L200