Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL SMD透反射偏光顯微鏡

儀器的用途：

Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL SMD透射偏光顯微鏡是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校更常用的實驗儀器。

儀器特點：

透反射偏光顯微鏡Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL SMD，隨著光學技術的不斷進步，作為光學儀器的偏光顯微鏡，其應用范圍也越來越廣闊，許多行業，如化工的化學纖維，半導體工業以及藥品檢驗等等，也廣泛地使用偏光顯微鏡。Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL SMD透射偏光顯微鏡就是適用的產品，可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子等附件，是組具有較完備功能和良好品質的新型產品。本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印。

技術參數：

?

系統簡介

偏光顯微鏡系統是將精銳的光學顯微鏡技術、*的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術地結合在起而開發研制成功的項高科技產品。可以在計算機顯示器上很方便地觀察偏光圖像，從而對偏光圖譜進行分析等對圖片進行輸出、打印。
系統組成

Leitz ORTHOLUX-Ⅱ POL SMD型圖像型：1、偏光顯微鏡 ?2、適配鏡 ?3、攝像器(COMS)