5mmMC-2000C大量程涂層測厚儀*關(guān)于基體的要求：

1.基體必須為磁性金屬，如鋼板、鎳、鐵等都是含磁金屬。

2.基體金屬的厚度： 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。科電涂層測厚儀的臨界厚度值：工件鐵基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

關(guān)于測試工件的要求：

1.本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

2.  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑： 凸:1.5mm 凹:6mm

其他：

探頭在使用是主要保持垂直測量，這樣得出的示值才會穩(wěn)定，其他類型測厚儀亦如此。   

 注意：由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量，表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。（此參考說明書上檢測方法）  

1、全量程的應(yīng)用范圍:0~10000um全量程覆蓋，國內(nèi)*。  

2、覆蓋全面的儀器種類: 手持、分體、磁性、非磁性、內(nèi)防腐*。

3、一直的*:*厚度自適應(yīng)和鎖相環(huán)技術(shù)打破了*壟斷！

4、專業(yè)的:    售前、售中、售后，*。

5、永無止境的技術(shù)革新:從2000年起至今從未間斷對涂鍍層測厚的技術(shù)研發(fā)。

5mmMC-2000C大量程涂層測厚儀*技術(shù)參數(shù)：MC-2000C涂層測厚儀工作原理

 MC-2000C型涂鍍層測厚儀采用電磁感應(yīng)法測量涂鍍層的厚度。位于部件表面的探頭

產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂鍍層厚度。

MC-2000C涂層測厚儀產(chǎn)品特點(diǎn)

輕松讀取：可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)，讀出已存入的測量數(shù)據(jù)。

1、測量范圍：

MC-2000 A 型測量范圍：0-1500um
MC-2000 C 型測量范圍：0-5000um
MC-2000 D 型測量范圍：10-9000um 
可訂做管道內(nèi)涂（鍍）層測頭，30mm管徑以上

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式： 4位液晶數(shù)字顯示

二、MC-2000C涂層測厚儀產(chǎn)品性能

1、測量范圍：　　0～5000um

2、測量誤差：　　<3%±1um

3、zui小示值：　　1um

4、顯示方式：    4位液晶數(shù)字顯示

5、主要功能：

   (1).測量：   　  單探頭全量程測厚

   (2).存儲、刪除： 可存入測量數(shù)據(jù)600個(gè)，對測量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。

   (3).讀：　 讀出已存入的測量數(shù)據(jù)

   (4).統(tǒng)計(jì)： 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值zui大值zui小值

   (5).校準(zhǔn)： 可進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)

   (6).電量： 具有欠壓顯示功能

   (7).打印： 可打印測量值，選配微型打印機(jī)

   (8).關(guān)機(jī)： 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法

6、電源：    　　　  兩節(jié)1.5v電池

7、功耗：      　　　zui大功耗100mw

8、外形盡寸：    　51mm*126mm*27mm

9、重量：　　　　　 160g（含電池）

10、使用環(huán)境溫度：　0℃～+40℃  相對濕度：不大于90%

11、基體zui小厚度：     0.5mm

12、基體zui小平面的直徑：   7mm

13、zui小曲率半徑：     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示：       右上角顯示＂＂

*臨界厚度小：工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度