太原MC-2000D涂鍍層測厚儀廠家直供
臨沂*檢測儀器有限公司專業銷售MC-2000D涂層測厚儀,本公司以誠信為本,質量為先”的企業文化,為消費者提供高質量的產品1年保修,。,具體型號有:具體型號有:MC-3000/MC-3000A/MC-3000C/MC-3000D/MC-2000A/MC-2000D/MC-2000C/MC-2000A涂層測厚儀
9mmMC-2000D涂鍍層測厚儀供貨商磁感應測量原理
MC-2000D型涂(鍍)層測厚儀采用電磁感應法測量涂(鍍)層的厚度時,利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小,來表示其覆層厚度。覆層越厚,則磁阻越大,磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀,原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性,則要求與基材的導磁率之差足夠大(如鋼上
鍍鎳)。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時,儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭,測量感應電動勢的大小,儀器將該信號放大后來
指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術,利用磁阻來調制測量信號。還采用設計的集成電路,引入微機,使測量精度和重現性有了大幅度的提高(幾乎達一個數量級)。現代的磁感應測厚儀,分辨率達磁感應測厚儀_電渦流測量原理_磁吸力測量原理及測厚儀_電渦流原理的測厚儀到0.1um,允許誤差達1%,量程達10mm。
磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層,瓷、搪瓷防護層,塑料、橡膠覆層,包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層,以及化工石油待業的各種防腐涂層
太原MC-2000D涂鍍層測厚儀廠家直供產品概述
MC-2000D型涂層測厚儀(鍍層測厚儀)測量范圍:10~9000um,它是*的結晶,它采用單片機技術,精度高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕;且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、系統校準,其性能達到當代同類儀器的*水平。
MC-2000D涂層測厚儀應用范圍
本儀器采用磁性測厚法,可以方便無損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測厚儀器廣泛應用于機械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業。
MC-2000D涂層測厚儀工作原理:
MC-2000D型涂(鍍)層測厚儀采用電磁感應法測量涂(鍍)層的厚度。位于部件表面的探頭產生一個閉合的磁回路,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以精確地測量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂(鍍)層厚度。
MC-2000D涂層測厚儀產品性能
1、測量范圍: 10~9000um
2、測量誤差: <3%±1um
3、zui小示值: 1um
4、顯示方式: 4位液晶數字顯示
5、主要功能:
(1).測量: 單探頭全量程測厚
(2).存儲、刪除: 可存入測量數據600個,對測量中的單個可疑數據進行刪除,也可以刪除存儲區內的所有數據。
(3).讀: 讀出已存入的測量數據
(4).統計: 設有三個統計量,平均值zui大值zui小值
(5).校準: 可進行系統校準
(6).電量: 具有欠壓顯示功能
(7).打印: 可打印測量值,選配微型打印機
(8).關機: 具有自動關機和手動關機兩種方法
6、電源: 兩節1.5v電池
7、功耗: zui大功耗100mw
8、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm
9、重量: 160g(含電池)
10、使用環境溫度: 0℃~+40℃ 相對濕度:不大于90%
11、基體zui小厚度: 0.5mm
12、基體zui小平面的直徑: 7mm
13、zui小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示: 右上角顯示""
*臨界厚度小:工件鐵基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度
MC-2000D型涂層測厚儀配置單
MC-2000D說明書下載
1、MC-2000D型涂鍍層測厚儀 一臺
2、七號電池 二節
3、探頭 一支
4、標準樣片 一盒
5、小鋁箱 一個
6、說明書、合格證 一套
選配件:
1、打印機及通訊打印連線 1套
2、微機通訊軟件 1盤
3、內防腐探頭
注意金屬基體材質
不同金屬基體材料的磁性、導電率是不相同的,這都會對測量結果造成影響[9]。采用磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準,亦可用待涂覆試件進行校準。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,導致其電導率不同,因此應使用與被檢測試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
注意檢測試件形狀
在實際生產中,工件的材料厚度、形狀、表面粗糙度等存在差異,這些差異會對實際測量結果造成影響。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測結果就會與實際厚度有差別。一些儀器對試件表面形狀的陡變十分敏感,因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量的數值會不可靠,實際測量時應選擇遠離邊緣和內轉角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測量結果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,即使在選擇儀器時考慮了zui小曲率半徑,測量時仍應盡可能選擇在平面部位進行測量。
以上也是在選擇測厚儀器時需要考慮zui小曲率半徑、zui小測量面積、zui小基體厚度的原因。