二手X射線熒光光譜儀ROHS
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儀器實拍：
二手X射線熒光光譜儀ROHS
X射線熒光光譜儀具有重現性好，測量速度快，靈敏度高的特點。能分析F(9)～U(92)之間所有元素。樣品可以是固體、粉末、熔融片，液體等，分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平，分析時間短。薄膜分析軟件FP-MULT1能作鍍層分析，薄膜分析。測量樣品的zui大尺寸要求為直徑51mm，高40mm。
儀器類別
0303040903 /儀器儀表 /成分分析儀器 /熒光光度計
指標信息
1.發射源是Rh靶X光管，zui大電流125mA，電壓60kV，zui大功率3kW 2.儀器在真空條件下工作，真空度<13pascals 3.5塊分析晶體，可以分析元素周期表F～U之間所有元素，含量范圍是ppm～* 4.分析軟件是Philips公司（現為PANalytical）版軟件，既可作半定量，也可定量分析。精密度：在計算率N=1483870時，RSD=0.08% 穩定性計算率Nmax=6134524,Nmin=6115920,N平均=6125704,相對誤差為0.03%
附件信息
循環水致冷單元，計算機 P10氣體瓶空氣壓縮機
分析對象主要有各種磁性材料（NdFeB、SmCo合金、FeTbDy）、鈦鎳記憶合金、混合稀土分量、貴金屬飾品和合金等，以及各種形態樣品的無標半定量分析，對于均勻的顆粒度較小的粉末或合金，結果接近于定量分析的準確度。X熒光分析快速，某些樣品當天就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。
X射線熒光光譜儀分為波長色散、能量色散、非色散X熒光、全反射X熒光。
波長色散X射線熒光光譜采用晶體或人工擬晶體根據Bragg定律將不同能量的譜線分開，然后進行測量。波長色散X射線熒光光譜一般采用X射線管作激發源，可分為順序式(或稱單道式或掃描式)、同時式(或稱多道式)譜儀、和順序式與同時式相結合的譜儀三種類型。順序式通過掃描方法逐個測量元素，因此測量速度通常比同時式慢，適用于科研及多用途的工作。同時式則適用于相對固定組成，對測量速度要求高和批量試樣分析, 順序式與同時式相結合的譜儀結合了兩者的優點。
熒光光譜
能量色散X射線熒光光譜采用脈沖高度分析器將不同能量的脈沖分開并測量。能量色散X射線熒光光譜儀可分為具有高分辨率的光譜儀，分辨率較低的便攜式光譜儀，和介于兩者之間的臺式光譜儀。高分辨率光譜儀通常采用液氮冷卻的半導體探測器，如Si(Li)和高純鍺探測器等。低分辨便攜式光譜儀常常采用正比計數器或閃爍計數器為探測器，它們不需要液氮冷卻。采用電致冷的半導體探測器，高分辨率譜儀已不用液氮冷卻。同步輻射光激發X射線熒光光譜、質子激發X射線熒光光譜、放射性同位素激發X射線熒光光譜、全反射X射線熒光光譜、微區X射線熒光光譜等較多采用的是能量色散方式。
非色散譜儀
非色散譜儀不是采用將不同能量的譜線分辨開來，而是通過選擇激發、選擇濾波和選擇探測等方法使測量分析線而排除其他能量譜線的干擾，因此一般只適用于測量一些簡單和組成基本固定的樣品。
全反射熒光
如果n1>n2，則介質1相對于介質2為光密介質，介質2相對于介質1為光疏介質。對于X射線，一般固體與空氣相比都是光疏介質。所以，如果介質1是空氣，那么α1>α2（圖2.20右圖），即折射線會偏向界面。如果α1足夠小，并使α2=0，此時的掠射角α1稱為臨界角α臨界。當α1<α臨界時，界面就象鏡子一樣將入射線全部反射回介質1中，這就是全反射現象。
X射線熒光光譜法有如下特點：
分析的元素范圍廣，從4Be到92U均可測定；
熒光X射線譜線簡單，相互干擾少，樣品不必分離，分析方法比較簡便；
分析濃度范圍較寬,從常量到微量都可分析。重元素的檢測限可達ppm量級，輕元素稍差；
分析樣品不被破壞，分析快速，準確，便于自動化。
產品簡介
應對歐盟RoHS、ELV和中國《電子信息產品污染防治管理辦法》。臺式小型主機，配備全自動開關的大樣品室。適應固體、液體、粉體、光盤、薄膜等各種類型的樣品。擴展性*，16/8樣品交換、真空/He氣氛、4種準直儀、使用CCD攝像頭觀察樣品等，900型的檢測器為電子制冷。
詳細介紹
固體•粉末•液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價RoHS、 ELV法規限制的有害元素的新裝置！靈敏度比以往機型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！
1。配置新型濾光片，提高Pb、Cd等的靈敏度提高2倍。
2。配置高計數率電路，增加檢測器的計數量。
3。增加時間縮短功能，由熒光X射線強度算出測定精度，自動判斷所需zui少測定時間。
4。增加自動工作曲線選擇功能，依據識別樣品種類的不同而選擇zui適宜的工作曲線。
技術參數
分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)6C~92U(EDX-800HS)
2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH
3.X射線濾鏡：5種自動交換
4.軟件：
定性分析－測定/解析軟件。
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法
1.分析元素：11Na~92U(EDX-720/900HS)，2.樣品型狀：zui大300mmФ×150mmH
3.X射線濾鏡：5種自動交換
4.軟件： 定性分析－測定/解析軟件
定量分析－工作曲線法，共存元素校正、FP法、薄膜FP法、BG-FP法主要特點：
固體、粉末、液體樣品都不需要前處理的非破壞性的簡便分析。適用快速評價RoHS、 ELV法規限制以及電子信息產品污染防治管理辦法中有害元素的新裝置！靈敏度比以往機型提高2倍，使用更方便，提高了篩選分析的效率！迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，保證產品和用料的綠色環保。
Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置?？蔁o損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。特別是zui近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規為代表的綠色采購及環境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度。
測定原理 X射線熒光分析法
測定方法 能量色散型
測定對象 固體、液體、粉狀
測定范圍 13Ai~92U
樣品室尺寸 zui大W370*D320*H155mm
迅速測定ppm級的有害金屬！
應對WEEE & RoHS、ELV等有害物質相關法規。
應對ASTM F963,EU_EN71美國和歐盟的玩具法規和指令，保證產品和用料的綠色環保。
Ｘ射線熒光分析裝置是使用Ｘ射線照射樣品，對產生的熒光Ｘ射線的能量進行檢測，測定構成樣品的元素種類及含量的裝置。可無損地進行固體、粉體、液體、磁盤、單晶片等的元素分析，廣泛應用于各個領域。特別是zui近，以歐盟的報廢電子電氣設備指令（WEEE）、電子電氣設備所含特定有害物質限制使用指令（RoHS）、報廢汽車指令（ELV）以及玩具指令（ASTM F963，EU_EN71）等法規為代表的綠色采購及環境分析之中，要求更為微量、更為迅速的分析。
為滿足這種需求，的EDX系列達到了更高的靈敏度與精度。
產品名稱： | 熒光X射線元素分析儀 |
產品型號： | EDX-700HS |
廠商名稱： | SHIMADZU(島津) |
產品簡述： | X-RAY FLUORESCENCE SPECTROMETER,rayny EDX-700HS型，AC100V,50Hz,15A,單相，分析元素范圍：11Na－92U |
SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray - Test Equipment Sales and Instrument Rental (Used,Refurbished,New)
SHIMADZU EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray
Micro Precision Test Equipment Inc. provides sales, rental and calibration service for SHIMADZU instruments including, EDX-700HS - X-Ray Flourescence X-Ray. Select from options for the EDX-700HS test equipment (Used,Refurbished, New). We can deliver it at your location or you can order from one of our many regional offices. Call 530-268-1860 for current pricing and availability.
X射線熒光的產生原理
X射線管發出X射線照射樣品，樣品中所含的原子則向外發射原子*的X射線。這種X射線被稱為熒光X射線，各元素具有特定的波長（能量）。因此，通過檢測X射線的波長就能夠進行定性分析。另外，熒光X射線的強度與濃度具有函數關系，檢測每個元素X射線特征波長的X射線量就能進行定量分析。
滿足所有領域不同的應用
■ 電子·電氣
·RoHS指令、無鹵素等篩選分析
·半導體、存儲裝置、液晶、太陽能電池等各種薄膜分析
■ 汽車·機械
· 應對ELV指令的篩選分析
· 各種機械零部件結構分析及鍍層厚度、化學合成外膜附著量的檢測
■ 鋼鐵·非金屬
· 原材料、合金、焊錫、貴金屬的主要成分、殘余成分的分析
· 爐渣的組成分析
■ 礦業
· 選礦工藝的成色鑒別分析
■ 窯業
· 陶瓷、水泥、玻璃、磚、粘土的分析
■ 石油·石油化學
· 油中硫元素的分析
· 潤滑油中各種添加元素及混入元素的分析
■ 化學工業
·無機·有機原料和產品分析
·催化劑、顏料、涂料、橡膠、塑膠的分析
■ 環境
· 土壤、排水、焚燒灰、過濾、PM2.5等成分分析
■ 醫藥
· 合成時的殘留催化劑分析
· 原藥中不純物分析、異物分析
■ 農業·食品
· 土壤、肥料、植物的分析
· 食品的原料分析、添加元素管理、混入異物的分析
■ 其它
· 考古學樣品及寶石成分分析
玩具·日用品中有害重金屬元素測定等
一、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀主機部分:
X射線發生器單元
X射線管
類型 Rh靶
冷卻方法 空冷（附風扇）
2X射線電源單元
電壓 5-50kV，每步1Kv（測定重金屬(Cd,Pb,Hg,Br,Cr等)時，可以用50ｋV。但測定輕元素時，15kV是***有效的。另在工作曲線法中，隨時可設定***佳電壓。） 電流 1-1000μA，每步1μA
穩定度 ±0.01%（外電壓波動±10%）
保護電路 過電壓, 過電流, 過功率,
X射線連鎖保護
（特點說明：電壓、電流可以由計算機控制自動調節，滿足不同元素的高精度分析，同時滿足RoHS，ELV指令擴展的要求）
3、一次X射線濾波片 5種自動交換
（特點說明：不同元素應該采用不同的濾光片進行分析，這樣才能有效降低背景，得到高準確度的測量數據。EDX-720進行元素分析時可以自動判斷元素和更換相應的濾光片，無須手動更換）
二、島津EDX-700hs射線熒光光譜儀檢測器:
1、檢測器
類型 Si（Li）檢測器
液氮 只有在分析時添加
液氮消耗 少于1升/天
檢測面積 10mm2
分析元素 Na-U
分辨率 ：小于150電子伏特
（特點說明：采用液氮制冷方式的檢測器具有高分辨率，可以避免元素譜線之間的干擾，從而保證高準確度的分析。在性能、實績、穩定性上，Si(Li)半導體是性的實績（島津檢測器是自己生產，在萬一發生故障也迅速對應）。 掘場按振動檢測器的性能下降。 精工較差的Si-PIN半導體分辨率為220eV、在分析樹脂中的Cd、Pb時，容易受到Br和Sb等共存元素的干擾、并有時不能檢出，還有因為是低強度，在測試金屬中有害元素的感度也差。）
2、計數單元
放大器
擬合時間 10μ秒
增益變化 高/低
多道分析器（MCA）
變頻型 順序比較ADC
道數 2048道
***大計數率 232-1/道
三、島津EDX-700 hs射線熒光光譜儀樣品室與測定室單元
1、樣品室
蓋子 自動開啟/關閉（帶安全系統）
每次測定時蓋子自動上升與下降。
***大樣品尺寸 300mm 直徑 x 150mm高
（特點說明：樣品室自動開啟，樣品蓋子的結構設計有效避免X光的泄露，滿足日本及中國X射線的泄露控制標準。超大型的樣品室可以容納大型的部件直接放入測試，無須切割）
2、測定室
X射線照射面積 下照射
光欄直徑 1、3、5、10mm可選
（特點說明：不同的分析面積采用不同尺寸的光欄，可以保證各種大小樣品的高精度測試。）
測定室開孔 13mm
3、測定氣氛：大氣
4、CCD觀察定位系統
配備CCD數碼觀察系統，可以準確定位分析區域。
